Лекции.Орг


Поиск:




Категории:

Астрономия
Биология
География
Другие языки
Интернет
Информатика
История
Культура
Литература
Логика
Математика
Медицина
Механика
Охрана труда
Педагогика
Политика
Право
Психология
Религия
Риторика
Социология
Спорт
Строительство
Технология
Транспорт
Физика
Философия
Финансы
Химия
Экология
Экономика
Электроника

 

 

 

 


Лабораторна робота №8 (2 год)




 

ТЕМА: Зняття вольт-амперних характеристик напівпровідникового діоду.

НАВЧАЛЬНА МЕТА: Ознайомлення з принципом роботи і будовою напівпровідникового діода.

ОБЛАДНАННЯ ТА ОСНАЩЕННЯ: ПК, Electronics Workbench.

 

ОСНОВНІ ТЕОРЕТИЧНІ ПЛОЖЕННЯ

За значенням питомого електричного опору напівпровідники займають проміжне положення між хорошими провідниками і діелектриками. До напівпровідників належать багато хімічних елементів (германій, кремній, селен, теллур, миш'як та ін.), величезна кількість сплавів і хімічних сполук.

Атоми германію на зовнішній оболонці мають чотири слабо пов'язаних електрона. Їх називають валентними електронами. У кристалічній решітці кожен атом оточений чотирма найближчими сусідами. Зв'язок між атомами в кристалі германію є ковалентним, тобто здійснюється парами валентних електронів. Кожен валентний електрон належить двом атомам (рис. 1). Валентні електрони в кристалі германію пов'язані з атомами набагато сильніше, ніж в металах; тому концентрація електронів провідності при кімнатній температурі в напівпровідниках на багато порядків менше, ніж у металів.

Рисунок 1

Якщо напівпровідник помістити в електричне поле, то до впорядкованого руху залучаються не лише вільні електрони, але і дірки, які поводяться як позитивно заряджені частки. Тому струм I в напівпровіднику складається з електронного In і діркового Ip струмів:

I = In + Ip.

За наявності домішок електрична провідність напівпровідників сильно змінюється. Наприклад, добавка в кристал кремнію домішок фосфору у кількості 0,001 атомного відсотка зменшує питомий опір більш ніж на п'ять порядків.

Необхідною умовою різкого зменшення питомого опору напівпровідника при введенні домішок є відмінність валентності атомів домішки від валентності основних атомів кристала.

Електронна провідність виникає, коли в кристал германію з чотиривалентними атомами введені п'ятивалентні атоми (наприклад, атоми миш'яку, As).

Рисунок 2 -Атом миш'яку в гратах германію. Напівпровідник n -типа

 

Чотири валентні електрони атома миш'яку включено в утворення ковалентних зв'язків з чотирма сусідніми атомами германію. П'ятий валентний електрон виявився зайвим; він легко відривається від атома миш'яку і стає вільним. Атом, що втратив електрон, перетворюється на позитивний іон, розташований у вузлі кристалічної решітки. Домішка з атомів з валентністю, що перевищує валентність основних атомів напівпровідникового кристала, називається донорною домішкою.

У кристалі германію з домішкою миш'яку є електрони і дірки, відповідальні за власну провідність кристала. Але основним типом носіїв вільного заряду є електрони, що відірвалися від атомів миш'яку. Така провідність називається електронною, а напівпровідник, що має електронну провідність, називається напівпровідником n -типа.

Рисунок 3 - Атом індію в гратах германію. Напівпровідник p -типа

 

Діркова провідність виникає, коли в кристал германію введені тривалентні атоми (наприклад, атоми індію, In). На утворення зв'язку з четвертим атомом германію у атома індію немає електрона. Цей бракуючий електрон може бути захоплений атомом індію з ковалентного зв'язку сусідніх атомів германію. В цьому випадку атом індію перетворюється на негативний іон, розташований у вузлі кристалічної решітки, а в ковалентному зв'язку сусідніх атомів утворюється вакансія. Домішка атомів, здатних захоплювати електрони, називається акцепторною домішкою. В результаті введення акцепторної домішки в кристалі розривається безліч ковалентних зв'язків і утворюються вакантні місця (дірки). На ці місця можуть перескакувати електрони з сусідніх ковалентних зв'язків, що призводить до хаотичного блукання дірок по кристалу.

Уявімо кристал германію, в якому одна половина містить донорну, а друга акцепторну домішку. Межу в кристалі напівпровідника між областями р- та n- типу називають електронно-дірковим переходом, або р-n переходом.

Основним елементом напівпровідникового діода є р-п перехід.

Електронно-дірковий перехід (чи n - p -переход) - це область контакту двох напівпровідників з різними типами провідності.

При контакті двох напівпровідників n - і p -типов починається процес дифузії: дірки з p -области переходять в n -область, а електрони, навпаки, з n -области в p -область. В результаті в n -области поблизу зони контакту зменшується концентрація електронів і виникає позитивно заряджений шар. У p -области зменшується концентрація дірок і виникає негативно заряджений шар. Таким чином, на межі напівпровідників утворюється подвійний електричний шар, поле якого перешкоджає процесу дифузії електронів і дірок один назустріч одному (рис. 4,а). Погранична область розділу напівпровідників з різними типами провідності (так званий замикаючий шар) зазвичай досягає товщини близько десятків і сотень міжатомних відстаней. Об'ємні заряди цього шару створюють між p - і n -областями замикаюча напруга Uз, приблизно рівна 0,35 В для германієвих n, - p -переходов і 0,6 В для кремнієвих.

 

Рисунок 4

Електричне поле, що виникає в цьому шарі, буде протидіяти подальшому переходу основних носіїв заряду через межу. Тільки дірки й електрони з досить великою кінетичною енергією можуть подолати протидію поля і пройти крізь перехідний шар.

При під’єднанні потенціалів як показано на рис 1, б, зовнішнє електричне поле збільшує внутрішнє, внаслідок запірний шар n → р переходу збільшується, відповідно збільшується опір середовища.

При під’єднанні потенціалів як показано на рис 1, в, зовнішнє електричне поле протидіє електричному полю n → р переходу і за принципом суперпозиції при досяганні Езоввн, запірний шар n → р переходу зникає, відповідно опір зменшується.

Таким чином, опір р-п переходу залежить від напряму струму. Властивість односторонньої провідності р-п переходу покладено в основу роботи напівпровідникових діодів та тріодів.

Рисунок 5 – ВАХ діоду

Відношення сили струму в прямому напрямі (Іпр) до сили струму (Ізв) у зворотному напрямі, щовідповідає одній і тій самій напрузі, називається коефіцієнтом випрямлення

Рисунок 6 – Схема дослідження

ХІД РОБОТИ

 

1 Відкрити схему досліду, для зняття вольт-амперних характеристик прямого включення діоду перемкнути ключ в положення 1-3, натиснувши клавішу Space, ввімкнути схему.

2 Встановити потенціометр в крайнє положення. Записати значення падіння напруги на діоді, та силу струму в колі, в таблицю. Змінюючи положення потенціометра по 20%, записувати дані до таблиці.

3 Перемкнути ключ в положення 1-2, для вимірювання зворотного включення, і повторити пункт 2.

4 За даними вимірювань побудувати графічно воль-амперні характеристики діоду, розрахувати коефіцієнт випрямлення.

5 Зробити висновок, відповісти на контрольні питання.

Пряме включення
U, В            
I, мА            
Зворотне включення
U, В            
I, мкА            

 

ЗМІСТ ЗВІТУ

1 Мета роботи

2 Обладнання

3 Таблиці з дослідженнями та розрахунками

4 Розрахунки

5 Висновки

 

 

КОНТРОЛЬНІ ЗАПИТАННЯ ДО ЗАХИСТУ:

1 Власні напівпровідники. Механізм їхньої провідності.

2 Домішкові напівпровідники. Донорні й акцепторні домішки.

3 Які основні носіїв напівпровідника n-типу, а які в напівпровідника р-типу?

4 Температурна залежність провідності напівпровідників. Терморезистори.

5 Контактні явища. Контактна різниця потенціалів.

6 Контактні явища в напівпровідниках.

7 Ефект Зеєбека.

8 Ефект Томсона.

9 Вентельний ефект.

10 Контакт електронного та діркового напівпровідників.

11 Контакт двох напівпровідників, р - п перехід.

12 Принцип дії напівпровідникового діода.





Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2016-11-18; Мы поможем в написании ваших работ!; просмотров: 1268 | Нарушение авторских прав


Поиск на сайте:

Лучшие изречения:

Неосмысленная жизнь не стоит того, чтобы жить. © Сократ
==> читать все изречения...

2285 - | 1991 -


© 2015-2024 lektsii.org - Контакты - Последнее добавление

Ген: 0.013 с.