1. На дифрактограмме определить масштаб записи дифракционной картины по имеющимся меткам и соответствующим этим меткам значениям углов
. Для этого необходимо измерить миллиметровой линейкой расстояние
между двумя метками 2
и 2
и определить величину/см. рис.4/
,
2. Рассчитать с помощью полученного значения масштаба и измеренных расстояний от какой-либо метки 2
до первых 5-6 максимумов дифракционной картины /указаны чертой на дифрактограмме/ значения соответствующих углов 2
:
.
3. Вычислить углы , затем sin
и
.
4.Рассчитать о помощью формулы (6) ряд чисел , а затем по табл.1 определить тип кристаллической решетки, величину
и индексы интерференции первого максимума
.
5. Зная величину , рассчитать индексы интерференции
,
,
всех исследованных семейств плоскостей.
6. Используя полученные значения углов и данное преподавателем значение длины волны рентгеновских лучей
с помощью формулы (4), рассчитать межплоскостные значения
.
7. Полученные межплоскостные расстояния использовать для расчета параметра элементарной ячейки (формула 5).
8. Построить график зависимости .
9. Оценить относительную и абсолютную погрешности определения параметра в зависимости от угла рассеяния.
10. С помощью данных, приведенных в табл. 2 определить, какое вещество исследовано.
Данные наблюдений и вычислений рекомендуется занести в табл. 3.
Таблица 3
Расстояние
между угловыми метками ![]() | ![]() ![]() | ![]() | ![]() | ![]() | sin ![]() | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() ![]() | ![]() ![]() |