Окончательный расчёт надёжности восстанавливаемых объектов с учётом режимов работы элементов

В некоторых литературных источниках, например в [19], невосстанавливаемые РЭС называют аппаратурой I класса, а восстанавливаемые РЭС относят к аппаратуре II и III классов. По классификации, приведённой в стандарте ГОСТ 27.003-90 [15] аппаратура I класса относится к невосстанавливаемым изделиям непрерывного длительного применения (НПДП), аппаратура II класса относится к восстанавливаемым изделиям многократного циклического применения (МКЦП), а аппаратура III класса относится к восстанавливаемым изделиям непрерывного длительного применения.

Надёжность РЭС, предназначенной для длительной работы, во время которой она может ре­монтироваться (аппаратура III класса), определяется функ­цией готовности k _Г(t) с помощью формулы (3.43). В этом разделе в формулах под λ и μ следует понимать соответствующие статистические интенсивности отказов λ_С и интенсивности восстановления системы μ_С. Вероятность Р _III(t) пребывания такой системы в состоянии готовно­сти к функциональному применению определяется выражением:

Р _III(t) = k _Г(t) = μ / (λ + μ) + [ λ / (μ + λ)]×ехр[-(μ + λ) × t ] =

= К _г + К _п × ехр[-(μ + λ) × t ], (4.11)

где К _г = μ / (λ + μ) - коэффициент готовности, а К _п = λ / (μ + λ) - коэффициент простоя для установившегося процесса.

Для установившегося процесса (t → ∞) вероятность Р _III(t) равна стационарному коэффициенту готовности К _г (формулы (3.36) и (3.40)):

Р _III(t) = К _г = μ / (λ + μ) = Т / (Т + Т _в). (4.12)

РЭС, которая в течение времени t ₁ может работать и ремонтироваться, а в течение вре­мени t ₂ должна исправно работать и ее восстановление в это время не допускается, называется аппаратурой II класса. Вероятность Р _II(t) пребывания такой системы в состоянии готовно­сти к функциональному применению определяется выражением:

Р _II(t) = К _г(t ₁) × ехр(-λ × t ₂). (4.13)

Вероятность Р _II(t) пребывания этой же системы в состоянии готовно­сти к функциональному применению для установившегося процесса (t ₁ → ∞, t ₂ = t) равна коэффициенту оперативной готовности К _ОГ(t) и определяется выражением (3.42):

Р _II(t) = К _ОГ(t) = К _г×ехр(- λ × t) = [ Т / (Т + Т _В)]×ехр (- λ × t). (4.14)

Здесь λ = λ_С определим по формулам (4.3) и (4.4), а Т = Т _1С = 1 / λ_С по формуле (4.5). Среднее время восстановления Т _В = Т _ВС = 1 / μ_С определим по формуле [19]:

(4.15)

где P_i - вероятность того, что возникшая неисправность относится к элементам i -ro типа или группы J –го блока; P_i определяется по формуле

P_i = (n_iJ × λ_i) / λ_С; (4.16)

t _{В i} - среднее время нахождения и устранения одной неисправности у элементов i -ro типа или группы, зависящее от сложности и ремонтопригодности РЭС. Приблизительные значения этого времени для элементов разных типов приведены в [19]. Более точные значения t _{В i} можно получить лишь имея статистические данные по ремонту изделий-аналогов

Подставляя в формулу (4.14) выражения для Т _ВС и P_i, получим выражение для вероятности Р _II(t) пребывания системы в состоянии готовно­сти к функциональному применению:

(4.17)

Пример 4.2.

Методику окончательного расчёта восстанавливаемого объекта покажем на примере восстанавливаемого самолётного вычислителя с той же электрической схемой и с теми же условиями эксплуатации, что и вычислитель, описанный в предыдущем примере. Для каждого элемента из одной группы время восстановления t _{В i} одинаково и задано в одиннадцатом столбце таблицы 4.3.

Таблица 4.3 - Пример окончательного расчёта ремонтируемого объекта (самолётного вычислителя) с использованием табличной формы

Номер группы элементов J	Тип элементов	…	niJ×λi×аi 10-6 1/ч	t В i ч	niJ×λi×t В i 10-6
		…
	Полупроводниковая ИС	…	8,92		26,76
	Транзистор кремниевый н.ч.	…	30,29		60,58
	Резистор МЛТ-0,5	…	3,41		3,41
	Соединитель 50–ти контактный	…	3,34		6,68
	Соединения пайкой	…	69,00		69,00

Требуется произвести ориентировочный и окончательный расчёты надёжности ремонтируемого самолётного вычислителя, определив коэффициент готовности К _г и коэффициент оперативной готовности К _ОГ(t) для наработок t ₁ = 100 ч. и t ₂ = 1000 ч.

Ориентировочное значение интенсивности отказов λ _cор = 123,58×10^-6 1/ч самолётного вычислителя, равное сумме цифр в шестом столбце таблицы, и окончательное значение интенсивности отказов λ _cок = 114,96×10^-6 1/ч, равное сумме цифр в десятом столбце таблицы, были вычислены в предыдущем примере. Подставляя в формулу (4.17) λ _c = λ _cор получим для t = t ₁ ориентировочное значение для вероятности Р _II(t ₁)_ор пребывания системы в состоянии готовно­сти к функциональному применению:

Для t = t ₂ имеем

Из формулы (4.14) следует, что ориентировочное значение коэффициента готовности равно

К _{Г ор} = К _ОГ(t)_ор / ехр(- λ _сор× t) = 0,98866 / 0,988824 = 0,999834146.

Подставляя в эту же формулу λ_c = λ _cок получим окончательное значение для вероятности Р _II(t)_ок пребывания системы в состоянии готовно­сти к функциональному применению получим при t = t ₁:

Для t = t ₂ имеем

Из формулы (4.14) следует, что окончательное значение коэффициента готовности равно

К _{Г ок} = К_ОГ(t)_ок / ехр(- λ _сок × t) = 0,988403 / 0,988567 = 0,999834103.

Так как величина среднего времени нахождения и устранения одной неисправности у элементов i -ro типа или группы t _{В i} , как уже упоминалось, сильно зависит от сложности и ремонтопригодности конкретной РЭС, справочные данные для величины этого времени обычно не надёжны. Если учесть тот факт, что для большинства изделий значение коэффициента готовности К _Г близко к единице, то, с учётом формул (3.57) и (4.14), получим, что вероятность Р _II(t) пребывания системы в состоянии готовно­сти к функциональному применению равна вероятности безотказной работы устройства и может быть определена по методике расчёта надёжности невосстанавливаемых объектов, изложенной в разделе 4.2:

Р _II(t) = К _ОГ(t) = К _Г × ехр(- λ× t) ≈ ехр(- λ × t) = Р _c(t). (4.18)