Лекции.Орг


Поиск:




Категории:

Астрономия
Биология
География
Другие языки
Интернет
Информатика
История
Культура
Литература
Логика
Математика
Медицина
Механика
Охрана труда
Педагогика
Политика
Право
Психология
Религия
Риторика
Социология
Спорт
Строительство
Технология
Транспорт
Физика
Философия
Финансы
Химия
Экология
Экономика
Электроника

 

 

 

 


Методы измерения удельного сопротивления




Методы основаны на определении разности электр-х потенциалов на некот. участке образца, через кот.пропускают элект-й ток. Существуют контактные и бесконтактн. методы. М-д измерения выбирают с учётом получения требующейся инф-и, особенностей исслед-го материала, возможн. изготовления электр-х контактов, геометрич. формы образца, метрологических хар-к метода. В наилучшем случае, измер-е хар-к материала не должно приводить к разрушению образца и требов. его спец. обработки.

Двухзондовый метод исп-ся для измерения удельного сопротивл. образцов правильной генетич. формы с известным поперечным сечением. Напр., исп-т для контроля распределения удельн. сопротивл-я по длине слитков полупров. материала. Рабочий диапозонизмер-т 10-3-10-4 Ом*см.

При использ-и данного метода на торцевых гранях образца изгот-т амические контакты. Через них вдоль образца пускают элек-ий ток. На одной из поверх-сти образца вдоль линии тока устанавл-т 2 контакта в виде метал-х иголок-зондов, имеющих малую площадь соприкосновения с поверх-ю. Между ними измер-ся разность потенциалов (U12).

I
 
 
U12
C

 


 

b
a


S=U12* A/ I* S,S – расстояние между зондами ,A – площадь поперечного образца ,U12 - разность потенциалов

Ток подаётся через образец от регулируемого источника постоянного тока.

Условия работы:1.точное соблюдение геометрических размеров образца,2. однородность материала

Однозондовый метод

Установленный на поверхности образца зонд является подвижным, те расстояние от контакта К может изменяться. Если провести измерения падения напряжения U между контактом К1 и зондом при двух значениях расстояния Х1 и Х2 величину удельного сопротивления можно измерить по формуле Р=S(U2-U1)/ I(X2-X1). S- площадь поперечного сечения образца; U1 и U2- падение напряжения в точках Х1 и Х2.

Влияние сопротивлений контактов на результаты измерения р(ро) будет таким же как и в случае 2х зондового метода.

Рисунок

Данный метод можно использовать для проверки однородности измеряемого образца, определение в неоднородном по длине образце зависимости р от х, проверки омичности контактов и определения величины сопротивления токопроводящих контактов.

Данные можно представить в виде графика. График.

Где зависимость 1- однородный образец с сопротивлением =0(с омическим контактом)

2-неоднородный образец с омическим контактом К1

3-однородному образцу с неомическим (выпрямляющим контактом К1), те контактом имеющим сопротивление отличное от нуля.

4- неоднородному образцу с неомическим контактом.

 

 


Оптическая микроскопия

Микроскоп – это оптический прибор для получения увеличенных изображений объектов.

Рис.

Микроскоп состоит из 2-х систем линз: окуляр и объектив.

Объектив расположен близко к образцу(Е) и создает первое увеличенное изображение(Е’), это изображение еще раз увеличивается окуляром Е’’, которое помещают ближе к глазу наблюдателя, на сетчатке формируется изображение Е’’’ под значительно большим углом, что и определяет большое увеличение микроскопа.

Первый микроскоп создал Галилей.

В современных микроскопах применяются сложные оптические системы, создаются специальные условия освещения объекта, что позволяет увеличивать в несколько тысяч раз.

Nопт ~ 103

Специальные условия освещения предполагают, что объект освещается светом с как можно более узким спектральным составом.

Лучшие условия это монохроматический свет одной длиной волны λ.

Если объект освещать обычным белым светом, т.е. светом с длинами волн 400-800нм, изображение объекта получается нерезким.

Это объясняется тем, что в сис-ме линз оптические пути лучей разного цвета не совпадают и изображение для каждой длины волны оказывается сдвинутым т.к. оптическая система разлагает белый свет в спектр.

При наложении изображений разного цвета – линии изображения становятся неразличимы.

Чтобы обеспечить монохроматическое излучение в микроскопах используют спец. лампы и оптич. фильтры.

Наиболее приближенным кмонохром. свету явл-ся излучение лазеров, но и это излучение содержит длины волн в интервале (λ,λ+∆λ).

Даже в случае монохром.освещения существует предел разрешающей способности микроскопа.

Этот предел обусловлен волновой природой света, которая проявляется в дефракции световой волны на краях линз оптической сис-мы.


67. Разрешающая способность микроскопов. Воптич. микроскопии для хар-ки возможностей увеличения используют понятие предельный угол разрешения и разрешающая способность

Пред.угол разреш. – угол при котором первое темное кольцо дефракционной картины проходит через светлый центр второго.

Пред.угол зависит от λ, освещающего объект, при этом миним.разрешаемое микроскопом расстояние определяют:

εmin=, а – числовая апертура, определяется показателем преломления материала и диаметром линз, а≤1.

Разреш.способность – величина обратная предельному углу разрешения.

Прави Релея – предельное разреш.оптич.микроскопа не может быть больше половины длины волны освещающего объект света.

Например в красном свете λ=700нм, оптич.микроскоп позволяет рассмотреть детали до 350нм.

При переходе к меньшим длинам волн(УФ λ~300нм)

Для изготовления линз требуются спец.материалы (кварц, флюорит) т.к. обычные стекла поглощают ультрафиолет.

 






Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2016-09-06; Мы поможем в написании ваших работ!; просмотров: 637 | Нарушение авторских прав


Поиск на сайте:

Лучшие изречения:

Начинать всегда стоит с того, что сеет сомнения. © Борис Стругацкий
==> читать все изречения...

2349 - | 2104 -


© 2015-2025 lektsii.org - Контакты - Последнее добавление

Ген: 0.011 с.