Лекции.Орг


Поиск:




Категории:

Астрономия
Биология
География
Другие языки
Интернет
Информатика
История
Культура
Литература
Логика
Математика
Медицина
Механика
Охрана труда
Педагогика
Политика
Право
Психология
Религия
Риторика
Социология
Спорт
Строительство
Технология
Транспорт
Физика
Философия
Финансы
Химия
Экология
Экономика
Электроника

 

 

 

 


Профилирование с неподвижными питающими заземлениями (съемка срединных градиентов)




При электропрофилировании на участках со сложным геоэлектрическим разрезом условия заземления питающих электродов могут оказать существенное влияние на форму графика ρк и сильно исказить его. Так, если в процессе перемещения четырехточечной установки по профилю между одним из питающих заземлений и приемным заземлениями окажется плохо проводящая кварцевая жила или дайка, то она экранирующим образом повлияет на распределение тока в Земле. Электрический ток будет обтекать плохо проводящую жилу, и поэтому в области между приемными заземлениями плотность тока окажется уменьшенной. Понижение плотности тока, в свою очередь, приведет к уменьшению разности потенциалов между заземлениями, следовательно, к понижению величины кажущегося сопротивления.

При дальнейшем перемещении по профилю заземление А перейдет через жилу и окажется по одну сторону от нее с приемными заземлениями. В этом положении установки электрический ток будет «отжиматься» жилой в сторону приемной цепи. Увеличение плотности тока между приемными заземлениями в данном случае приведет к увеличению ρк. Таким образом, переход питающего заземления через плохо проводящее тело отметится на графике электропрофилирование двумя экстремумами - максимумом и минимумом кажущегося сопротивления. Такими же экстремумами будет отмечен на графике переход через жилу второго питающего заземления. Наличие на графике нескольких экстремумов, связанных с экранными эффектами у заземления, значительно осложнит вид графика и затруднит его интерпретацию.

Для уменьшения искажающегося влияния неоднородной среды вблизи заземления применяют модификацию электропрофилирования с неподвижными питающими заземлениями - съемку срединных градиентов. При профилировании с установкой срединных градиентов рис. 16. питающие заземления остаются фиксированными, а приемные перемещают вдоль профилей, параллельных линии АВ и расположенных в пределах средней части линии АВ. Длина каждого профиля не должна превышать 1/3 расстояния между питающими заземлениями. В связи с неизменным положением питающих заземлений экранные эффекты, обусловленные ими, остаются постоянными, поэтому графики менее изрезаны чем графики симметричного электропрофилирования. Установка для съемки срединных градиентов используется для выявления плохопроводящих крутозалегающих объектов и при детальном картировании.

Рисунок 16

 

Технически количественная интерпретация сводится к решению обратной задачи путем сравнения практических графиков с теоретичес-

кими, полученными путем расчетов, например, с использованием формул или палеток, построенных на основании расчетов.

Следует иметь в виду то, что в большинстве случаев реально изученные разрезы значительно сложнее тех, для которых получены теоретические графики и палетки, поэтому результаты интепретации обычно следует рассматривать как оценочные и только в самых простых простых геоэлектрических условиях – как строго количественная.

Палетка МСГ построена в билогарифмическом масштабе с модулем 6.25, предназначенная для интерпретации аномалии ρк, вызванных вертикально залегающими бесконечными по простиранию и на глубину. Каждая кривая палетки представляет из себя графическую зависимость А/Аmax=f(x/H1) для постоянных значений b/H1=0, 0.2, 1, 2, 3, 5, 7, 10, 15, 20, 30, 50. Расчет производился с учетом, что A/Amax= ρк/ ρк(max). По следующей формуле: A/Amax=φ/φmax=(arctg (b/H1+x/H1)-arctg(x/H1-b/H1))/2arctg b/H1,где A – численные значения ρк в любой произвольной точке аномального участка соответствующей кривой, Amax - максимальное значение ρкa в эпицентре аномального участка кривой, 2b – горизантальная мощность пласта, x – расстояние от эпицентра аномалии до точки наблюдения, H1 - глубина залегания верхней грани пласта, φ и φmax - углы, под которыми верхняя грань пласта просматривается из произвольной точки профиля и из эпицентра аномалии.

Профилирование с неподвижными питающими заземлениями можно проводить как на постоянном, так и на низкочастотном переменном токе с аппаратурой ИКС.





Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2015-11-23; Мы поможем в написании ваших работ!; просмотров: 679 | Нарушение авторских прав


Поиск на сайте:

Лучшие изречения:

Либо вы управляете вашим днем, либо день управляет вами. © Джим Рон
==> читать все изречения...

4312 - | 4030 -


© 2015-2026 lektsii.org - Контакты - Последнее добавление

Ген: 0.008 с.