| 3.1. Емісійний спектральний аналіз базується на дослідженні:
|
| a) спектрів випромінювання;
| b) спектрів поглинання;
|
| c) спектрів розсіювання;
| d) спектрів збудження.
|
| 3.2. Атомно-абсорбційний спектральний аналіз базується на дослідженні:
|
| a) спектрів поглинання;
| b) спектрів випромінювання;
|
| c) спектрів розсіювання;
| d) спектрів збудження.
|
| 3.3. Спектр випромінювання – це випромінювання:
|
| a) впорядковане за довжинами хвиль світлових променів;
| b) впорядковане за напрямком поширення світлових променів;
|
| c) впорядковане за ступенем поляризації світлових променів;
| d) впорядковане за інтенсивністю світлових променів.
|
| 3.4. Лінійчасті спектри випромінювання характерні:
|
| a) для розжарених у газоподібному стані атомів та іонів;
| b) для розжарених твердих тіл;
|
| c) для розжарених рідин;
| d) для розжарених у газоподібному стані молекул.
|
| 3.5. Смугасті спектри випромінювання характерні:
|
| a) для розжарених у газоподібному стані молекул;
| b) для розжарених у газоподібному стані атомів та іонів;
|
| c) для пучка елементарних частинок;
| d) для розжарених рідин та твердих тіл.
|
| 3.6. Суцільні (неперервні) спектри випромінювання характерні:
|
| a) для розжарених рідин та твердих тіл;
| b) для розжарених у газоподібному стані атомів та іонів;
|
| c) для пучка елементарних частинок;
| d) для розжарених у газоподібному стані молекул.
|
| 3.7. В спектрографах емісійні спектри реєструють:
|
| a) фотографічно;
| b) візуально;
|
| c) фотоелектрично;
| d) електронно.
|
| 3.8. В спектрометрах емісійні спектри реєструють:
|
| a) фотоелектрично;
| b) фотографічно;
|
| c) візуально;
| d) електронно.
|
| 3.9. В спектроскопах емісійні спектри реєструють:
|
| a) візуально;
| b) фотографічно;
|
| c) фотоелектрично;
| d) електронно.
|
| 3.10. При якісному спектральному аналізі ідентифікацію речовин проводять:
|
| a) за розміщенням наявних характерних ліній в спектрі;
| b) за інтенсивністю наявних ліній в спектрі;
|
| c) за кількістю наявних ліній в спектрі;
| d) за формою наявних характерних ліній в спектрі.
|
| 3.11. Кількісний спектральний аналіз базується:
|
| a) на залежності між інтенсивністю аналітичної лінії елементу в спектрі та його концентрацією в пробі;
| b) на залежності між частотою аналітичної лінії елементу в спектрі та його концентрацією в пробі;
|
| c) на залежності між довжиною хвилі аналітичної лінії елементу в спектрі та його концентрацією в пробі;
| d) на залежності між розміщенням аналітичної лінії елементу в спектрі та його концентрацією в пробі.
|
| 3.12. Інтенсивність спектральної лінії при емісійному випромінюванні описується формулою:
|
a)  ;
| b)  ;
|
c)  ;
| d)  .
|
| 3.13. Відносну інтенсивність спектральної лінії при емісійному аналізі обчислюють за формулою:
|
a)  ;
| b)  ;
|
c)  ;
| d)  .
|
3.14. При атомно-абсорбційному аналізі оптичну густину обчислюють за формулою  . Під І0 розуміють:
|
| a) інтенсивність аналітичної лінії, яка реєструється до введення проби в атомізатор;
| b) інтенсивність аналітичної лінії, яка реєструється після введення проби в атомізатор;
|
| c) інтенсивність світлового потоку, який направляють в атомізатор;
| d) інтенсивність світлового потоку, який не розкладений в спектр.
|
| 3.15. При атомно-абсорбційному аналізі оптичну густину обчислюють за формулою . Під І розуміють:
|
| a) інтенсивність аналітичної лінії, яка реєструється після введення проби в атомізатор;
| b) інтенсивність аналітичної лінії, яка реєструється до введення проби в атомізатор;
|
| c) інтенсивність світлового потоку, який направляють в атомізатор;
| d) інтенсивність світлового потоку, який не розкладений в спектр.
|
| 3.16. Метод мас-спектрального аналізу базується на розділенні заряджених частинок, які рухаються:
|
| a) в електричному та магнітному полях;
| b) в магнітному полі;
|
| c) в електричному полі;
| d) рухаються вільно.
|
| 3.17. В мас-спектрометрі на рухому заряджену частинку діють постійним магнітним полем, вектор напруженості якого:
|
| a) перпендикулярний до руху частинки;
| b) співпадає з напрямком руху частинки;
|
| c) є протилежним до напрямку руху частинки;
| d) радіальний до руху частинки.
|
| 3.18. На заряджену частинку, яка рухається в мас-спектрометрі із швидкістю v діють постійним магнітним полем вектор напруженості якого є перпендикулярний до руху частинки. Радіус відхилення такої частинки від напрямку її руху буде описуватися формулою:
|
a)  ;
| b)  ;
|
c)  ;
| d)  .
|
| 3.19. Маса частинки, яка попадає в детектор мас-спектрометра Бейнбріджа описується формулою:
|
a)  ;
| b)  ;
|
c)  ;
| d)  .
|
| 3.20. Мас-спектрограма дає можливість визначити в пробі вміст ізотопу, який пропорційний:
|
| a) висоті піку;
| b) ширині піку;
|
| c) площі піку;
| d) відношенню висоти піку до його ширини.
|
| 3.21. За даними мас-спектрограми, процентний вміст ізотопу визначають за формулою:
|
a)  ;
| b)  ;
|
c)  ;
| d)  .
|
| 3.22. Методами ІЧ спектроскопії вивчають:
|
| a) коливальні спектри молекул;
| b) коливальні спектри атомів;
|
| c) коливальні спектри електронів;
| d) коливальні спектри атомних ядер.
|
| 3.23. Досліджували поглинання зразком електромагнітних коливань з довжиною хвилі від λ = 400 нм до λ = 600 нм. В якому діапазоні хвиль проводили дослідження?
|
| a) в діапазоні видимого випромінювання;
| b) в діапазоні ІЧ-випромінювання;
|
| c) в діапазоні рентгенівського випромінювання;
| d) в діапазоні УФ-випромінювання.
|
| 3.24. Досліджували поглинання зразком електромагнітних коливань з довжиною хвилі від λ = 12·103 мкм до λ = 22·103 мкм. В якому діапазоні хвиль проводили дослідження?
|
| a) в діапазоні ІЧ-випромінювання;
| b) в діапазоні видимого випромінювання;
|
| c) в діапазоні рентгенівського випромінювання;
| d) в діапазоні УФ-випромінювання.
|
| 3.25. Досліджували поглинання зразком електромагнітних коливань з довжиною хвилі від λ = 120 до λ = 280 нм. В якому діапазоні хвиль проводили дослідження?
|
| a) в діапазоні УФ-випромінювання;
| b) в діапазоні видимого випромінювання;
|
| c) в діапазоні рентгенівського випромінювання;
| d) в діапазоні ІЧ-випромінювання.
|
| 3.26. Досліджували поглинання зразком електромагнітних коливань з довжиною хвилі від λ = 0,2 нм до λ = 8,2 нм. В якому діапазоні хвиль проводили дослідження?
|
| a) в діапазоні рентгенівського випромінювання;
| b) в діапазоні видимого випромінювання;
|
| c) в діапазоні ІЧ-випромінювання;
| d) в діапазоні УФ-випромінювання.
|
| 3.27. При поглинанні ІЧ-променів речовиною, в її молекулах активізуються валентні коливання, які супроводжуються:
|
| a) зміною довжини хімічних зв’язків між атомами;
| b) зміною величини валентних кутів між атомами;
|
| c) обертанням атомів навколо осі зв’язку;
| d) розривом хімічного зв’язку.
|
| 3.28. При поглинанні ІЧ-променів речовиною, в її молекулах активізуються деформаційні коливання, які супроводжуються:
|
| a) зміною величини валентних кутів між атомами;
| b) зміною довжини хімічних зв’язків між атомами;
|
| c) обертанням атомів навколо осі зв’язку;
| d) розривом хімічного зв’язку.
|
| 3.29. Характеристичними ІЧ-смугами поглинання називають:
|
| a) смуги, які відповідають певним функціональним групам;
| b) смуги, які мають однакову інтенсивність;
|
| c) смуги, які мають однакову форму контуру;
| d) смуги, які визначаються молекулярною масою речовини.
|
| 3.30. Ідентифікацію речовин в ІЧ-спектроскопії проводять:
|
| a) за розміщенням характеристичних смуг поглинання в ІЧ-спектрі;
| b) за інтенсивністю характеристичних смуг поглинання в ІЧ-спектрі;
|
| c) за кількістю смуг поглинання в ІЧ-спектрі;
| d) за формою характеристичних смуг поглинання в ІЧ-спектрі.
|
| 3.31. Дифракційна решітка у спектрофотометрі служить:
|
| a) для розкладання світлового пучка в спектр;
| b) для відбивання світлового пучка;
|
| c) для пропускання світлового пучка певної інтенсивності;
| d) для реєстрації інтенсивності світлового пучка.
|
| 3.32. Фотометричний клин у спектрофотометрі служить:
|
| a) для пропускання світлового пучка певної інтенсивності;
| b) для відбивання світлового пучка;
|
| c) для розкладання світлового пучка в спектр;
| d) для реєстрації інтенсивності світлового пучка.
|
| 3.33. Фотоелектронний помножувач у спектрофотометрі служить:
|
| a) для реєстрації інтенсивності світлового пучка;
| b) для відбивання світлового пучка;
|
| c) для розкладання світлового пучка в спектр;
| d) для пропускання світлового пучка певної інтенсивності.
|
| 3.34. Призма у спектрофотометрі служить:
|
| a) для розкладання світлового пучка в спектр;
| b) для відбивання світлового пучка;
|
| c) для пропускання світлового пучка певної інтенсивності;
| d) для реєстрації інтенсивності світлового пучка.
|
| 3.35. Лінзи для ІЧ-спектрометрів виготовляють:
|
| a) із цезій броміду;
| b) із кварцового скла;
|
| c) із натрієвого скла;
| d) із натрій сульфату.
|
| 3.36. Призми для ІЧ-спектрометрів виготовляють:
|
| a) із цезій броміду;
| b) із кварцового скла;
|
| c) із натрієвого скла;
| d) із натрій сульфату.
|
3.37. На малюнку показана одна із характеристичних смуг ІЧ-спектру з визначеною для неї базовою лінією a - b.
Знайти значення I0 для даної характеристичної смуги.
|
| a) 76%;
| b) 12%;
|
| c) 84%;
| d) 62%.
|
| 3.38. На малюнку показана одна із характеристичних смуг ІЧ-спектру з визначеною для неї базовою лінією a - b.
Знайти значення I для даної характеристичної смуги.
|
| a) 12%;
| b) 76%;
|
| c) 84%;
| d) 62%.
|
| 3.39. На малюнку показана одна із характеристичних смуг ІЧ-спектру з визначеною для неї базовою лінією a - b.
Знайти значення хвильового числа для даної характеристичної смуги.
|
| a) 2880 см-1;
| b) 2750 см-1;
|
| c) 2970 см-1;
| d) 2800 см-1.
|
3.40. На малюнку показана одна із характеристичних смуг ІЧ-спектру з визначеною для неї базовою лінією a - b.
Знайти значення I0 для даної характеристичної смуги.
|
| a) 78%;
| b) 62%;
|
| c) 12%;
| d) 84%.
|
| 3.41. На малюнку показана одна із характеристичних смуг ІЧ-спектру з визначеною для неї базовою лінією a - b.
Знайти значення I для даної характеристичної смуги.
|
| a) 12%;
| b) 62%;
|
| c) 78%;
| d) 84%.
|
3.42. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b.
Знайти значення I0 для першої характеристичної смуги.
|
| a) 84%;
| b) 78%;
|
| c) 34%;
| d) 86%.
|
| 3.43. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b.
Знайти значення I для першої характеристичної смуги.
|
| a) 34%;
| b) 78%;
|
| c) 84%;
| d) 86%.
|
| 3.44. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b.
Знайти значення хвильового числа для першої характеристичної смуги.
|
| a) 3140 см-1;
| b) 3035 см-1;
|
| c) 2950 см-1;
| d) 3260 см-1.
|
| 3.45. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b.
Знайти значення хвильового числа для другої характеристичної смуги.
|
| a) 3035 см-1;
| b) 2950 см-1;
|
| c) 3140 см-1;
| d) 3260 см-1.
|
3.46. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b.
Знайти значення І0 для другої характеристичної смуги.
|
| a) 80%;
| b) 78%;
|
| c) 26%;
| d) 86%.
|
| 3.47. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b.
Знайти значення І для другої характеристичної смуги.
|
| a) 26%;
| b) 78%;
|
| c) 80%;
| d) 86%.
|
3.48. На малюнку показана одна із характеристичних смуг ІЧ-спектру з визначеною для неї базовою лінією a - b.
Знайти значення хвильового числа для даної характеристичної смуги.
|
| a) 2820 см-1;
| b) 2760 см-1;
|
| c) 2850 см-1;
| d) 2950 см-1.
|
3.49. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b.
Знайти значення I0 для першої характеристичної смуги.
|
| a) 80%;
| b) 68%;
|
| c) 26%;
| d) 86%.
|
| 3.50. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b.
Знайти значення I для першої характеристичної смуги.
|
| a) 26%;
| b) 68%;
|
| c) 80%;
| d) 86%.
|
| 3.51. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b.
Знайти значення I0 для другої характеристичної смуги.
|
| a) 84%;
| b) 68%;
|
| c) 34%;
| d) 86%.
|
| 3.52. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b.
Знайти значення I для другої характеристичної смуги.
|
| a) 34%;
| b) 68%;
|
| c) 84%;
| d) 86%.
|
| 3.53. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b.
Знайти значення хвильового числа для другої характеристичної смуги.
|
| a) 2960 см-1;
| b) 2840 см-1;
|
| c) 3065 см-1;
| d) 3140 см-1.
|
| 3.54. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b.
Знайти значення хвильового числа для першої характеристичної смуги.
|
| a) 3065 см-1;
| b) 2960 см-1;
|
| c) 2840 см-1;
| d) 3140 см-1.
|
|
|
| | | |
