Лекции.Орг


Поиск:




Категории:

Астрономия
Биология
География
Другие языки
Интернет
Информатика
История
Культура
Литература
Логика
Математика
Медицина
Механика
Охрана труда
Педагогика
Политика
Право
Психология
Религия
Риторика
Социология
Спорт
Строительство
Технология
Транспорт
Физика
Философия
Финансы
Химия
Экология
Экономика
Электроника

 

 

 

 


Практическая ценность работы




Полученные в настоящей работе результаты изучения поляризационных свойств слоев ортоплюмбата свинца Pb3O4, монокристаллов силленита висмута Bi12SiO2: Ge и слоев пористого кремния por-Si могут быть полезны при разработке, изготовлении и контроле оптических характеристик устройств опто- и микроэлектроники.

Данные по исследованию механизма переноса заряда и энергетического спектра ортоплюмбата свинца Pb3O4 можно использовать при изготовлении фоточувствительных элементов солнечных космических батарей, фотоваракторов, фотоэлектрических преобразователей и усилителей изображения, интерференционных зеркала, светофильтров и т.д.

Результаты исследования релаксации поляризации в монокристаллах силленита висмута Bi12SiO2 дают возможность осознанно управлять их оптическими характеристиками, что может быть полезно при изготовлении пространственно-временных модуляторов света (ПВМС), виброчувствительных элементов, устройств обработки речевых сигналов, голографических элементов, устройств записи, хранения и обработки оптической информации и т.д.

Полученные в работе данные о влиянии частоты приложенного электрического поля на электротранспортные характеристики слорев пористого кремния могут быть учтены при создании и контроле свойств датчиков влажности, газовых, химических и биологических сенсоров, светодиодов, топливных элементов и т.д.

 

 

Апробация результатов работы

Результаты, полученные в настоящей работе, докладывались на международной научно-технической конференции Intermatic – 2010 «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения» (Москва, Россия, 2010), XIII Международной конференции «Опто-, наноэлектроника, нанотехнологии и микросистемы» (Ульяновск, Россия, 2010), Международной научно-технической конференции Intermatic – 2011 «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения» (Москва, Россия, 2011), XV Международной конференции «Опто-, наноэлектроника, нанотехнологии и микросистемы» (Ульяновск, Россия, 2012), Международной научно-технической конференции Intermatic – 2012 «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения» (Москва, Россия, 2012), Международной научно-технической конференции Intermatic – 2014 «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения» (Москва, Россия, 2014), 52-й Международной научной студенческой конференции МНСК–2014 (Новосибирск, Россия, 2014), XVI Всероссийской молодежной конференции по физике полупроводников и наноструктур, полупроводниковой опто- и наноэлектронике (Санкт-Петербург, Россия, 2014), III Международной научно-практической конференции «Актуальные проблемы современной науки» (Уфа, Россия, 2014), II Международной научно-методической конференции«Современные образовательные технологии в преподавании естественно-научных и гуманитарных дисциплин» (Санкт-Петербург, Россия, 2015), Международном форуме-конкурсе молодых ученых «Проблемы недропользования» (Санкт-Петербург, Россия, 2015), Международном семинаре-симпозиуме «Нанофизика и наноматериалы» (Санкт-Петербург, Россия, 2015), Международном форуме-конкурсе молодых ученых «Проблемы недропользования» (Санкт-Петербург, Россия, 2016), III Международной научно-методической конференции «Современные образовательные технологии в преподавании естественно-научных и гуманитарных дисциплин» (Санкт-Петербург, Россия, 2016), Международном семинаре-симпозиуме «Нанофизика и наноматериалы» (Санкт-Петербург, Россия, 2016), Международной научно-технической конференции Intermatic – 2016 «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения» (Москва, Россия, 2016).

 

Публикации

По теме диссертационной работы опубликовано 24 работы, в том числе 8 статей и 16 тезисов докладов в трудах конференций.

 

 

Личный вклад автора

Автором лично получены и интерпретированы все экспериментальные результаты по изучению поляризационных процессов.

 

ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ И ВЫВОДЫ

 

 

1. Обоснована информативность методов токовой и диэлектрической спектроскопии при изучении процессов электрической релаксации в полупроводниковых материалах с разлияным структурным строением.

2. Установлено, что полевая зависимость токов поляризации в ортоплюмбате свинца Pb3O4 отвечает эстафетному механизму переноса заряда в запрещенной зоне полупроводника, а процесс проводимости носит термоактивационный характер.

3. На основе модели эстафетного механизма электротранспорта в неупорядоченных средах определены макро- и микропараметры, характеризующие протекающие электронные релаксационные процессы и энергетическую структуру локальных уровней в слоях Pb3O4.

4. Монокристаллы Bi12SiO20 демонстрируют релаксационный характер диэлектрической дисперсии, обусловленной влиянием как примесного фактора, так и присутствия стериохимически активной неподеленной пары электронов ионов Вi3+, обуславливающей повышенную диэлектрическую поляризуемость исследуемых материалов;

5. В образцах монокристаллы Bi12SiO20 выявлена высокочастотная дисперсия диэлектрических коэффициентов, по-видимому, связанная с резонансными электронными процессами;

6. Установлено, что при температурах 300 – 340 K в Bi12SiO20 реализуются перескоки носителей заряда с одного дефектного узла на другой. Выше T 340 К увеличение тока проводимости можно связать с изменением подвижности и концентрации носителей;

7. При комнатной температуре в диапазоне частот порядка 10-3 – 1 Гц в пористом кремнии por-Si обнаружены замедленные поляризационные процессы, характерные для миграционной поляризации. С увеличением температуры наблюдается расширение диапазона частот, при котором наблюдаются процессы миграционной поляризации.

8. В пористом кремнии por-Si установлен прыжковый механизм электропроводности, характеризующийся прыжками носителей заряда в окрестностях уровня Ферми. Проводимость пористого кремния носит термоактивационный характер.

9. Рассчитанная величина плотности локальных состояний для пористого кремния por-Si порядка 1019 эВ-1 см-1 и их энергетический разброс порядка 0, 5 эВ позволяет считать пористый кремний структурой, близкой к аморфной.

 

 

ПУБЛИКАЦИИ

 

 

1. Аванесян В.Т., Севрюгина М.П. Кинетика переходного тока в МДМ-структуре на основе ортоплюмбата свинца Pb3O4 // Материалы международной конференции Intermatic-2010 «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения». М., Энергоатомиздат. Т. 10. № 1-2. 2010. С. 185-187.

2. Аванесян В.Т., Севрюгина М.П., Баранова Е.В. Релаксационные процессы в МДМ-структуре на основе оксида свинца Pb3O4 // Труды XII международной конференции «Опто-, наноэлектроника, нанотехнологии и микросистемы», Ульяновск. 2010. С. 184.

3. Аванесян В.Т., Севрюгина М.П. Длинновременная релаксация тока в естественно-неупорядоченном полупроводнике Pb3O4 // ФТТ. т. 53, №5. 2011. С. 881-884.

4. Аванесян В.Т., Севрюгина М.П. Низкочастотная диэлектрическая спектроскопия монокристаллов Bi12SiO20 // Материалы международной научно-технической конференции "Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения", М., Энергоатомиздат. 2011. Т. 11. № -2. С. 96-98.

5. Аванесян В.Т., Севрюгина М.П., Потачев С.А. Процессы переноса заряда с участием глубоких локальных центров в фоторефрактивных монокристаллах силленита висмута // Труды XV международной конференции «Опто-, наноэлектроника, нанотехнологии и микросистемы», Ульяновск. 2012. С. 108.

6. Аванесян В.Т., Севрюгина М.П. Перенос заряда в фоторефрактивных монокристаллах силленита висмута // материалы международной научно-технической конференции "Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения", М., Энергоатомиздат. 2012. Т. 12. № -2. С. 124-126.

7. Севрюгина М.П., Пщелко Н.С. Кинетика тока релаксации в монокристаллах силленита висмута Bi12SiO20 // Материалы 52-й Международной научной студенческой конференции МНСК–2014, –Новосибирск: Новосибирский государственный университет. 2014. с. 30 – 31

8. Pshchelko N. S., Moshnikov V. A., Sevryugina M. P., Moshkalev S. A. Influence of nanodimensional effects on electric adhesion in anodic bonding manufacturing of composites seals // Smart Nanocomposites. v. 4. N1. 2013. p. 105 – 106

9. Pshchelko N. S., Moshnikov V. A., Sevryugina M. P. Influence of nanodimensional effects on electric adhesion in anodic bonding manufacturing of composites seals // Smart Nanocomposites. v. 4. N2. 2014. p. 1 – 7

10. Pshchelko N.S., Sevryugina M.P. Modeling of physical and chemical processes of anodic bonding technology // Advanced Materials Research. Vol. 1040. 2014. p 513-518

11. Пщелко Н.С., Севрюгина М.П., Кади Я.С. Фотопамять в полупроводниковых аморфных оксидах переходных металлов // «Актуальные проблемы современной науки» сборник статей III Международной научно-практической конференции. – Уфа: Аэтерна. 2014. с. 7 -9

12. Пщелко Н.С., Севрюгина М.П. Использование электрических полей для контроля металлодиэлектрических структур // Материалы международной конференции Intermatic-2014 «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения». –М.: МИРЭА. Т. 14. № -1. 2014 С. 129-131.

13. Севрюгина М.П., Спивак Ю.М., Пщелко Н.С. Низкочастотная диэлектрическая спектроскопия слоев por-Si // Материалы международной конференции Intermatic-2014 «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения» –М.: МИРЭА. Т. 14. № -3. 2014. С. 59-61.

14. Sevryugina M.P., Pshchelko N.S., Kadi Y.S. Relaxation phenomena in a naturally disordered Pb3O4 semiconductor // Journal of Physics: Conference Series. Т. 586. № 1. 2015. С. 012-016

15. Sevryugina M.P., Pshchelko N.S., Moshnikov V.A. Relaxation phenomena in Bi12SiO20 single crystal // Smart Nanocomposites. Т. 6. № 2. 2015. С. 149-157.

16. Sevryugina M.P., Pshchelko N.S., Moshnikov V.A. Charge transfer processes in Bi12SiO20 single crystal // Smart Nanocomposites. Т. 6. № 2. 2015. С. 271-272.

17. Севрюгина М.П., Пщелко Н.С. Взаимосвязь частотной дисперсии диэлектрической проницаемости и кинетики токов релаксации в наноструктурированном высокоомном полупроводнике por-Si // Современные образовательные технологии в преподавании естественно-научных и гуманитарных дисциплин: сборник научных трудов II Международной научно-методической конференции 09-10 апреля 2015 г. / «Национальный минерально-сырьевой университет «Горный». – Санкт-Петербург. 2015. с. 691 – 695

18. Pshchelko N. S., Moshnikov V. A., Sevryugina M. P., Moshkalev S. A. Influence of nanodimensional effects on electric adhesion in anodic bonding manufacturing of composites seals // Nanoscale-arranged systems for nanotechnology, -Nova Science Publishers. 2015. p. 152-153.

19. Pshchelko N. S., Moshnikov V. A., Sevryugina M. P. Influence of nanodimensional effects on electric adhesion in anodic bonding manufacturing of composites seals // Nanoscale-arranged systems for nanotechnology, -Nova Science Publishers. 2015. p. 71-77.

20. Севрюгина М.П., Пщелко Н.С. Поляризационные процессы слоях пористого кремния // Современные образовательные технологии в преподавании естественно-научных и гуманитарных дисциплин: сборник научных трудов III Международной научно-методической конференции 09-10 апреля 2016 г. / «Национальный минерально-сырьевой университет «Горный». – Санкт-Петербург. 2016. с. 784-788.

21. Sevryugina M.P., Pshchelko N.S. Current spectroscopy of naturally disordered Pb3O4 semiconductor // Smart Nanocomposites. v. 6. N1. 2016. p. 57 – 63.

22. Севрюгина М.П., Спивак Ю.М., Мошников В.А., Пщелко Н.С. Импеданс-спектроскопия слоев пористого кремния (por-Si) в области сверхнизких частот // Материалы международной конференции Intermatic-2016 «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения» –М.: Галлея-Принт. Ч.2. 2016. С. 195-197.

 





Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2017-02-28; Мы поможем в написании ваших работ!; просмотров: 362 | Нарушение авторских прав


Поиск на сайте:

Лучшие изречения:

Наука — это организованные знания, мудрость — это организованная жизнь. © Иммануил Кант
==> читать все изречения...

2281 - | 2079 -


© 2015-2024 lektsii.org - Контакты - Последнее добавление

Ген: 0.01 с.