Техника безопасности при работе с дефектоскопами

В зоне эксплуатации дефектоскопов с источниками УФ-излучений используют средства индивидуальной защиты лица, груди и рук.

В УФ-облучающих дефектоскопах, предназначенных для люминесцентного метода с визуальным способом выявления дефектов, в качестве источников УФ-излучения используют: специализированные ртутные лампы в черных колбах и их аналоги (рис. 1-3), а также неспециализированные ртутные лампы с приставными светофильтрами из ультрафиолетового стекла УФС6 и УФС8.

Рис. 1. Дефектоскопические УФ-лампы в черных колбах; 1-ДРУФЗ-125; 2-ДРУФ-125; 3 — ДРУФ-125-1; 4 - ДРУФ-250; 5 —ЛУФ-4-1. Рис. 2. Спектральное распределение УФ-излучения дефектоскопической УФ-лампы в черной колбе мощностью 125 Вт

Рис. 3. Спектральное (а) и полярное (б) распределение УФ-излучения дефектоскопической лампы (в) мощностью 6 Вт

Применяют и другие источники и светофильтры, обеспечивающие излучение волн длиной 300...400 нм с преобладанием длины волны 365 нм. Волн длиной 300…320 нм может быть не более 10% от всего потока.

Дефектоскопы с источниками УФ-излучения снабжают встроенными или отдельными устройствами, защищающими лицо и глаза работающего от воздействия УФ-излучения. Для индивидуальной защиты глаз следует применять защитные очки со светофильтрами из желтого стекла ЖС4 толщиной не менее 2 мм для контроля объектов в условиях затемнения или светофильтрами С-4...С-9 толщиной 3,5 мм для обслуживания и наладки облучательных устройств с неспециализированными ртутными лампами со снятыми светофильтрами и кожухами.

В качестве пленочного защитного негорючего материала, поглощающего УФ-излучение, но пропускающего видимый свет, следует применять полиамидную пленку типа ПМ марки А толщиной не менее 30 мкм.

Максимальные значения допустимых уровней эритемной облученности и дозы УФ-облучения в зоне работы контролера (оператора) не должны превышать значений, указанных в табл. 9.

В составных частях стационарных дефектоскопов, предназначенных для использования цветного и ахроматического методов капиллярной дефектоскопии с визуальным способом выявления дефектов, следует применять комбинированное освещение (общее и местное).

Kомбинированную освещенность обработанной проявителем контролируемой поверхности в зависимости от ее особенностей выбирают в пределах 750—4000 лк при применении люминесцентных источников света или 500—3000 лк при использовании ламп накаливания. Общая составляющая освещенности (за вычетом местной) соответственно должна составлять от 300 до 750 лк или от 200 до 500 лк.

Помещения для стационарных дефектоскопов, содержащих УФ-облучатели с неспециализированными ртутными лампами, обеспечивают вентиляцией.

В дефектоскопах, предназначенных для обработки объектов дефектоскопическими материалами, обеспечивается герметизация и теплоизоляция. В аппаратуре с повышенной запыленностью сухими проявителями или загазованностью парами растворителей, пенетрантов, жидких проявителей и очистителей предусмотрены встроенные отсосы, вентиляция, очистка, регенерация технологических выбросов и стоков.

При проверке стационарных дефектоскопов допускается по согласованию с потребителем проводить испытания каждого функционального устройства в целом, входящего в состав дефектоскопов, или каждой самостоятельной сборочной единицы функционального устройства.

Проверку чувствительности дефектоскопов проводят визуальной оценкой выявляемости соответствующих дефектов в объектах контроля либо в одном из типов образцов для испытаний, приведенных с соблюдением требований к УФ-облучателям.