Радиотехнические характеристики и методы испытаний БЭК

Для определения качества БЭК введены следующие радиотех­нические характеристики: коэффициент безэховости К_би «кажу­щаяся» ЭПР s_к.

Основной радиотехнической характеристикой безэховой каме­ры является коэффициент безэховости К_б, определяемый во всем рабочем диапазоне и во всей безэховой зоне БЭК. Напомним, что безэховой зоной БЭК называется объем, в любой точке которого К_б меньше заданного значения.

Коэффициентом безэховости К_бназывается отношение потока мощности, рассеянного камерой P_рас, к потоку мощности, пришед­шему от излучателя, Р_пад в заданной точке безэховой зоны БЭК и определяется, как правило, по следующей формуле:

K₆ = 10lg(P_paсc/P_naд.).(5.1)

Коэффициент безэховости БЭК определяется по «наихудшему» его значению к безэховой зоне [7 и 8, 59].

Для характеристики БЭК, в которой измеряется ЭПР радио­локационной цели, вводится понятие «кажущаяся» ЭПР БЭК s_к.«Кажущейся» ЭПР БЭК называется ЭПР эталонного рассеивателя (например шара), помещенного на месте испытуемого рассеивателя (на расстоянии rот приемопередающей антенны измерительной установки) и имеющего такую ЭПР, которая соз­дает у приемопередающей антенны такую же плотность потока мощности, какую создают там же все отраженные от БЭК волны.

В настоящее время для испытаний БЭК разработаны следую­щие методы: непосредственного измерения рассеянной мощности; перемещающегося индикатора (метод КСВ); наложения диаграмм направленности приемной антенны, свип-генератора (метод гене­ратора качающейся частоты); двух приемных антенн; измерений «кажущейся» ЭПР БЭК.

Метод непосредственного измерения рассеянной мощности. Этот метод является наиболее простым и оперативным, но его точность зависит от диаграммы направленности индикаторной ан­тенны, выбранной для измерений. Для реализации метода требу­ются приемные антенны, имеющие малые боковые и задние лепе­стки диаграммы направленности. Для удовлетворительных изме­рений эти лепестки должны быть на 25 ¸ 30 дБ меньше, чем изме­ряемый коэффициент безэховости. Так, для измерений коэффици­ента безэховости К_бпорядка —40 дБ требуется антенна, у кото­рой боковые и задние лепестки диаграммы меньше —65 ¸ —70 дБ. В настоящее время известны типы антенн, у которых диаграммы имеют малые лепестки. Это ребристые рупорные антенны [75, 76], «диагональные» рупорные антенны [73] и рупорные антенны, по­крытые РПМ [74]. При измерениях используется измерительная установка, собранная по схеме, приведенной на рис. 5.1. Индика­торная антенна А_прповорачивается поворотным устройством 3 в заданной плоскости и при каждом угле ориентации главного максимума диаграммы фиксируется с помощью аттенюатора 1 и приемника 2 принимаемая мощность. Затем принятая мощность нормируется к максимальной и строится диаграмма в полярных или декартовых координатах (рис. 5.2). Такую диаграмму, если исключить сектор, соответствующий главному лепестку индикатор­ной антенны A_пр (например, сектор, равный 120° между углами от 300° до 60° на рис. 5.2), будем называть диаграммой коэффициента безэховости.

Метод КСВ. При этом методе испытаний используется ин­дика­торная антенна, имеющая диаграмму с малыми боковыми и зад­ними лепестками [73—76]. Эта антенна передвигается в без­эховой зоне БЭК по различным направлениям, схематически изображен­ным стрелками на рис. 5.3, а, б. В методе, описанном Галаганом [7], антенна передвигается в трех взаимоперпендику­лярных на­правлениях вдоль главных осей БЭК. При этом для селекции от­ражений при­меняется направленная антенна, которая направля­ется после за­вершения очередного цикла измерений на раз­лич­ные места стен БЭК, так что угол q₁ между осью ОХ, вдоль кото­рой передвигается антенна, и осью антенны изменяется от 0° до 90° с шагом 10°. При движении антенны вдоль оси OY угол q₂ ме­жду осью ОХ и осью антенны изменяется с тем же шагом от 90° до 180°, так что индикаторная антенна при этом направлена на заднюю часть БЭК. При движении антенны изменяется фаза па­дающего Е_пад и рассеянного Е_рас полей, в результате чего на ин­дикаторе фиксируется интерференционная картина полей, похо­жая на запись КСВ в измерительной линии.

При передвижении индикаторной антенны по главным осям БЭК амплитуда падающего поля Е_пад, принятого индикаторной антенной, почти не изменяется, а амплитуда рассеянного поля £рас изменяется, в результате чего изменяется как средний уровень U_ср результирующего поля, так и разброс DU (см. рис. 5.4,б).

При измерениях можно передвигать индикаторную антенну по радиусам так, как показано на рис. 5.3,б. При таком движении индикаторная антенна всегда направлена на определенный учас­ток БЭК, так что при этом амплитуда принятого рассеянного по­ля E_рас изменяется мало, хотя при измерениях несколько изменя­ется амплитуда падающего поля E_пад Примеры записи осцилляционных кривых приведены на рис. 5.4. Наиболее четко кривая записана на рис. 5.4,а,на котором приведен результат интерференции прямой волны, принятой задним лепестком индикаторной антенны, и волны, отраженной от задней стенки БЭК и принятой главным лепестком индикаторной антенны. Как видно, средний уровень U_ср—35 дБ, разброс поля DU=12 дБ. Пользу­ясь номограммой Бакли [8] на рис. 5.5,а, получаем коэффициент безэховости К_б, = 38,5 дБ. Тот же результат несколько более удобно можно получить из номограм­мы Галагана [7], приведенной на рис. 5.5,б. По разбросу DU=12 дБ получаем коэффициент отражения R = 3,5 дБ и далее коэффициент безэховости

K_a = U_cp + R. (5.2)

Подставляя измеренные значения, получаем Kб = - (35 + 3,5) дБ = —38,5 дБ. На рис. 5.4,б приведена осцилляционная кривая, снятая при перемещении индикаторной антенны вдоль продольной оси БЭК [46], когда амплитуда рассеянного поля Е_рас изменялась. Поэтому и средний уровень U_сp,и разброс DU поля изменялись, и для определения среднего коэффициента без­эховости К_б.ср необходимо найти локальные К_бi в нескольких точ­ках кривой. Для примера приведем процедуру определения К_б.ср подвум значениям локальных коэффициентов безэховости К_бi.

Для определения К₀₁и К₀₂ (точки b₁ с₁, и b₂, с₂ ) находим U_СР1 == -34 дБ, DU₁ = 6 дБ, U_CP2 = -37 дБ, DU₂ = 7дБ. По номограмме рис. 5.10,б находим, что DU₁ = 6 дБ соответствует R_i = -8 дБDU₂ = 7 дБ соответствует R₂ = -7 дБ. Далее по формуле (5.10) определяем К_б1 = -42 дБ, К_б2 = -44 дБ и К_бср = -43 дБ. Имея зависимость К_бот угла, можно построить диаграмму безэховости. Пример диаграммы безэховости приведен на рис. 5.6.

Метод наложения диаграмм направленности. Измерение коэф­фициента безэховости этим методом было описано Бакли [74], а также Эппил-Хансеном [46].

Для измерения выбирают индикаторную антенну с малым уровнем лепестков. Далее снимают диаграмму направленности в разных точках безэховой зоны БЭК. Затем диаграммы наклады­вают друг на друга, выбирают среднюю диаграмму, определяют уровень, на котором разброс наибольший, и далее по этому раз­бросу и уровню диаграммы с помощью номограммы рис. 5.5,а определяют коэффициент безэховости К_б БЭК.

Рассмотрим рис. 5.6 для определения К_б по этой методике. На этом рисунке точками bc отмечен наибольший разброс диа­грамм. Для простоты здесь приведено лишь две диаграммы. На самом деле при реальных измерениях их берется значительно больше. Разброс составляет 4 дБ на уровне —26 дБ. По номо­грамме рис. 5.5,а находим, что соответствующий коэффициент безэховости составляет К_б=- 37 дБ. Тот же результат более удобно можно получить, используя номограмму рис. 5.5,б.

Измерение коэффициента безэховости с помощью генератора качающейся частоты. Определение коэффициента безэховости К_б методом КСВ и методам наложения диаграмм направленности имеет тот недостаток, что при измерении необходимо перемещать индикаторную антенну, для чего требуется специальное приспо­собление и значительное время. Применение генератора качаю­щейся частоты устраняет указанный недостаток [77].

Метод поясняется рис. 5.8, на котором изображена измери­тельная установка и безэховая камера. Измерительная установ­ка состоит из генератора «качающейся частоты» 1, передающей ан­тенны A_пер, имеющей широкую диаграмму направленности 2; при­емной антенны А_пр,имеющей диаграмму кардиодного типа 3; приемника 4 и регистрирующего прибора 5. Энергия от передаю­щей антенны распространяется к приемной по прямому лучу 6 и по отраженным лучам, например 7 и 8.

Качество безэховой камеры 9 характеризуется коэффициентом безэховости К_б, равным, по определению, отношению суммы мощ­ностей всех отраженных волн, пришедших в безэховую зону, к мощности прямой волны.

Чтобы приемная антенна приняла все отраженные волны и не приняла прямой волны, ее диаграмма направленности должна быть изотропной и иметь глубокий провал в направлении прямой волны. Такую диаграмму кардиодного типа можно сформировать различными способами, например специально сфазированными ви­браторами и рамками; спираль­ными антеннами с экранами, ква­зиненаправленной антенной с по­глощающим шипом, установлен­ным в направлении прихода пря­мой волны.

Точность измерения К_б зави­сит от глубины провала в квази­изотропной диаграмме приемной антенны. Так, например, если провал составляет —55 дБ отно­сительно максимума диаграммы, то такой антенной можно измерить непосредственную Кб БЭК до уровня —40 дБ. Если необходима более высокая точность, ее можно достичь изменением частоты свип-генератора 1 во время измерений. При изменении частоты генератора изменяется элек­трическая длина прямого луча 6 и отраженных лучей, например 7 и 8, в результате на регистрирующем приборе 5 будет записы­ваться интерференционная кривая, аналогичная кривой в методе КСВ (см. рис. 5.4). Для случая ненаправленной диаграммы коэф­фициент безэховости БЭК будет определяться в децибелах форму­лой:

. (5.10)

С учетом диаграммы направленности приемной антенны формула (5.10) приобретает вид

, (5.11)

где P_amin — мощность в провале диаграммы приемной антенны, направленной на передающую антенну; P_amax — мощность в мак­симуме диаграммы приемной антенны.

Для того чтобы измерения с генератором качающейся частоты были правильными, необходимо удовлетворить следующим усло­виям:

1. Произведение коэффициента усиления передающей антенны G_пер(l) и эффективной поверхности приемной антенны S_np(l)в диапазоне перестройки генератора качающейся частоты, применя­емом при измерении, должно быть постоянным:

G_пер(l)S_np(l)= const. (5.12)

2. Отношение чувствительности приемника к мощности пере­датчика в диапазоне перестройки должно быть постоянным:

P_пр(l)/P_пер(l) = const (5.13)

Если оба условия выполняются приближенно, то перед нача­лом измерений производится калибровка установки, которая за­тем учитывается при обработке результатов измерений.

Метод двух приемных антенн. В 1981 г. А. А. Зиничев и Ю. А. Зайцев предложили способ определения ошибок, вносимых пара­зитными отражениями БЭК в измерения характеристик антенн, в котором используются две приемные антенны [78]. Он реализует­ся с помощью измерительной установки, схема которой приведе­на на рис. 5.9. Передающая антенна А_пер излучает СВЧ сигнал, поступающий в приемные антенны А_пр1 и А_пр2 двумя путями: не­посредственно по лучам 1 и 2 и после отражения, например, от стены 5 безэховой камеры по лучам 3 и 4. Далее сигналы по трак­там 8 и 9 поступают на фазометр 11, в котором образуется разностный сигнал за счет сдвига на 180° относительной фазы этих сигналов. Затем путем поворота вокруг вертикальной оси YY стойки 10 с планкой 7 добиваются минимального значения раз­ностного сигнала на фазометре 11 и по оптическому прибору 6 точно определяют угол j₁ отсчитываемый в горизонтальной (плоскости между осями XX и X₁X₁ (рис. 5.9,б). Ось XX проходит че­рез фазовый центр передающей антенны А_пер в центр вращения О планки 7, а ось Х₁Х₁ перпендикулярна планке 7. Далее антенны А _пр1 и A_np2 меняют местами, для чего подвижную планку 7 пово­рачивают на 180° в вертикальной плоскости вокруг оси X₁X₁. За­тем стойки 10 с планкой 7 снова вращают вокруг оси YY до полу­чения минимального значения разностного сигнала на фазометре 11 и спомощью оптического прибора 6 отсчитывают второе значе­ние j₂ угла j между осями XX и Х₁Х₁.

Ошибку, вносимую в измерении паразитными отражениями

от БЭК определяют по формуле

Dj_к = кd /1(sinj₁ + sinj₂ ± l/ d) - Dj₀,

где к = 2л/l, l - длина волны, d - расстояние между фазовыми центрами приемных антенн A_ПР1 и A_ПР2, Dj_о— разность фаз, обус­ловленная не идентичностью фазовых характеристик трактов 8 и 9. Легко видеть, что если отражения от стен БЭКотсутствуют, то Dj_к = 0.

Измерение «кажущейся» ЭПР БЭК. Основной характеристикой БЭК, предназначенной для измерения характеристик рассея­ния радиолокационных целей, является ее «кажущаяся» эффек­тивная поверхность рассеяния s_к. При измерении ЭПР рассеивателя в БЭК необходимо, чтобы наводимый в приемном устройст­ве сигнал, соответствующий s_к, был значительно меньше сигнала, отраженного от измеряемого рассеивателя. На точность опреде­ления s_к, влияет еще фон, который существует практически во всех установках.

Рассмотрим метод измерения s_К с помощью установок с не­прерывным излучением и компенсацией остаточного сигнала. Та­кие установки подробно описаны в [1].

1. С помощью схемы компенсации подбирается такой компен­сирующий сигнал, чтобы на высокочастотном детекторе получить глубокий нуль.

Соответствующее этому случаю напряжение на детекторе

, (5.15)

где s_комп — компенсирующий сигнал.

2. Затем измерительная установка как единое целое передви­гается в точку, где напряжение на детекторе максимально:

. (5.16)

Эта точка должна находиться от первоначальной в пределах ±l/2. Отношение U_max/U_min характеризует глубину компенсации и должно быть не менее 30 дБ. При этом напряжение, измерен­ное в максимуме,

, (5.17)

где D — малая погрешность. Можно положить

, (5.18)

и, следовательно, измеренная мощность окажется пропорциональ­ной 4s_к.

3. Следующим этапом является калибровка s_к по эталонным металлическим сферам. Теоретически ЭПР металлической сферы радиуса rможно считать равной pг², за исключением резонансных частот и релеевской области.

Если определяется s_кБЭК совместно с опорой, на которой укрепляется испытуемый рассеиватель, то эталонная сфера закреп­ляется на опоре со сдвигом на несколько длин волн от ее верти­кальной оси. При вращении опоры фаза сигнала, отраженного от сферы, проходит все значения от 0 до 2кp по отношению к фазе сигнала, отраженного от камеры.

В БЭК без опорной колонны эталонная сфера подвешивается на нити к потолку и приводится в колебательное движение в вер­тикальной плоскости, содержащей ось камеры, с амплитудой в не­сколько длин волн. При этом регистрируется интерференционная кривая, аналогичная рис. 5.4,а. Максимальные значения на этой кривой соответствуют полю и'_тах, полученному при сложении «поля от камеры» 2Ö`s<sub>к</sub>и «поля от эталонной сферы» Ö`s_с, и равны и'_тах = 2Ö`s<sub>к</sub> + Ö`s_с, минимальные значения соответствуют полю u'_min = 2Ö`s<sub>к</sub> - Ö`s_с.Отношение напряжений в максимуме и мини­муме этой кривой будет зависеть от того, что больше: сигнал от камеры или сигнал от эталонной сферы.

Напряжения в первом и втором случае будут выражаться так:

, (5.19)

, (5.20)

а кажущаяся ЭПР БЭК соответственно:

. (5.21)

В (5.20), (5.21) при U₁, U₂® ∞, s_к1®s_к2®s_с/4. Практически при U₁, U₂ >100 можно считать s_к1»s_к2»s_с/4. Следовательно, чем больше «разброс» (D, дБ) интерференционной кривой, тем ближе s_к к s_с/4. При U₁, U₂ >100 для определения коэффициента [(U+1)/(U—I)]² можно пользоваться номограммой рис. 5.5,б, на которой по вертикальной оси отложен «разброс», а по горизон­тальной 201g[(U+l)/(U—1)] (см. табл. 5.1, колонка 3). Для бо­лее точного определения по измеренному «разбросу» коэффициента [(U+1)/(U—1)]², на который нужно умножить или разделить s_с/4, чтобы получить s_и (5.20), (5.21), приводится табл. 5.1.

 

Таблица 5.1

 

Разброс V, дБ	Коэффициент			Разброс V, ДБ	Коэффициент
0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1,0 2,0 3,0		44,5 38,9 35,3 32,8 30,8 29,2 27,9 26,8 25,7 24,8 18,8 15,3		4,0 6,0 6,0 7,0 8,0 9,0 10,0 15,0 20,0 25,0 30,0 40,0	20 13 9,1 6,8 5,4 4,4 3,7 2,1 1,5 1,3 1,14 1,04	13,0 11,4 9,6 8,3 7,3 6,4 5,7 3,2 1,8 1,1 0,58 0,18

 

Для определения s_к БЭК следует провести измерения с несколь­кими эталонными сферами, которые нужно выбирать так, чтобы «разброс» (D, дБ) на интерференционной кривой был порядка 3 ¸ 20 дБ. Из полученных s_kiследует отобрать те, которые ближе всего друг к другу по одной величине для каждой сферы. Среднее всех найденных значений s_ki и есть искомая s_к.

Методы уточнения измеренных элементов ЭПР в БЭК [1]. При аттестации эталонных рассеивателей экспериментальным методом необходимо определить их диаграммы ЭПР. При этом наиболь­шую трудность представляет выявление систематических погреш­ностей в измерениях. Если рассеиватель при измерениях вращает­ся так, что ось вращения остается неподвижной в пространстве, многократные измерения диаграммы ЭПР не приводят к ее уточ­нению. Для компенсации систематических погрешностей необхо­димо смещать рассеиватель относительно элементов измерительной установки и опоры на расстояние, равное l/4 и l/2 [79]. Если измерения диаграммы ЭПР проводятся в БЭК, приемная антенна и приемник принимают полный вектор рассеянного поля U, кото­рый можно разложить на несколько составляющих: V_p —поле от рассеивателя; V₃ — поле от задней стенки; V_б — поле, рассеянное боковыми стенками; V_ар — поле, двукратно рассеянное антенной и рассеивателем; V_P3 — поле двукратно рассеянное рассеивателем и задней стенкой, V_p6 — поле, двукратно рассеянное рассеивателем и боковой стенкой.

Во время измерений определяют полное поле при расположении рассеивателя в точке А, а затем в точке В, находящейся на оси камеры, но сдвинутой относительно точки А на расстояние, равное l/4 (рис. 5.10,а). При этом фаза векторов V_ap и V_pз изменится на p и при сложении векторов V (А) и V (В) эти составляющие исключатся. При перемещении рассеивателя в точку С, находящую­ся от Ана расстоянии l/2, по перпендикуляру к оси камеры (рис. 5.10,б) фаза векторов V_p6 и V₆ изменится на p и при сложении векторов V (A) и V (С) эти составляющие исключатся. Остальные составляющие при векторном сложении уменьшаются.

Таким образом, при перемещении рассеивателя относительно измерительной установки на l/2 и l/4 одна часть паразитных рас­сеяний компенсируется, а другая превращается в случайные погрешности и может быть уменьшена при суммировании резуль­татов многократных измерений. Процесс измерения диаграммы ЭПР можно автоматизировать, перемещая ось вращения рассеи­вателя во время измерения по окружности радиуса l/4 и одновре­менно перемещая ее относительно приемопередающей антенны за каждый оборот рассеивателя на расстояние немного меньше l/4 вдоль оси камеры (рис. 5.10,в) [1]. Фиксируя результаты измере­ния ЭПР рассеивателя и производя статистическую обработку на компьютере, можно получить существенное уточнение результатов изме­рений. При обработке результатов определяют среднюю диаграм­му из некоторого числа измерений, которая существенно точнее диаграммы каждого индивидуального измерения: основные систе­матические погрешности измерения оказываются скомпенсиро­ванными, а случайные уменьшаются в Ö`nраз, где n— число из­мерений. Особо точные измерения при аттестации эталонных рассеивателей должны производиться многократно при изменении ра­диуса вращения оси рассеивателя и высоты его подвеса. Опреде­ляя среднюю диаграмму. ЭПР из серии измерений, можно полу­чить ее уточнение, мерой которого является дисперсия. При вы­полнении измерений необходимо, чтобы опора или подвеска мо­дели не вносила погрешностей в результате измерений; для этого ЭПР опоры должна быть на 2 ¸ 3 порядка меньше минимально измеряемой ЭПР. Такому условию удовлетворяют подвески из капроновых нитей.

На рис. 5.11 приведена диаграмма ЭПР цилиндра, измеренная по указанной методике, которая сравнивается с диаграммой, рассчитанной теоретически методом краевых волн [1]. Из рисунка видно, что теоретическая диаграмма и экспериментальные точки нигде не отличаются больше чем на 3 дБ.

 

Для аттестации эталонного рассеивателя можно измерить диа­граммы ЭПР на различных установках и усреднить полученные результаты. В связи с тем, что систематические погрешности раз­личных установок не коррелированны, при усреднении результатов можно считать, что имеются лишь случайные погрешности. По­этому многократные измерения на различных установках приво­дят к уточнению диаграммы ЭПР эталонного рассеивателя.

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

 

1. Майзельс Е. Н., Торгованов В. А. Измерение характеристик рассеяния радио­локационных целей. — М.: Сов. радио, 1972. — 232 с.

2. Мицмахер М. Ю. Качество современных безэховых камер и радиопоглощающие материалы. — В сб.: Антенны/Под ред. А. А. Пистолькорса. М.: Связь, 1980, вып. 28, с. 147—164.

3. Emerson W. H. Electromagnetic Wave Absorbers and Anechoic Chambers Through the Years. — IEEE Trans., 1973, AP-21, № 4, p. 484—490.

4. Aviation Week and Space Technology, 1970, v. 92, № 10, p. 201»

5. Electronic Design, 1971, v. 19, № 17, p. 24.

6. Vaffee M. L. New Facility to Reduce R and D Costs, — Aviation Week and Space Technology, 1971, v. 95, № 3, July 19, p. 44—46.

7. Buckley E. F. Microwave Reflectivity Measurement — Theory and Practice.— Electronic Design (Microwaves), 1962, March 15, p. 12—19.

8. Buckley E. F. Design Evaluation and Performance Modern Microwave Ane­choic Chambers for Antenna Measurements, — Elecronic Components, 1965, v. 6, N 12, p. 1119—1126.

9. Methods of Radar Cross-section Analysis/Edited by J. W. Crispin and К. М. Siegel, — Acadcmicpress, New York, London, 1968.

10. Эмерсон, Сефтон. Улучшенная конструкция безэховой камеры. — ТИИЭР, 1965, т. 53, № 8, с. 1227—1229.

11. Фрини. Параметры опор целей, связанные с измерениями их отражательной способности. — ТИИЭР, 1965, т. 53, № 8, с. 1066—1074.

12. Buckley E. F., Niles G. E. Reflexions armed Antennenmesraume fur Mikrowellen. — Elektrotechnic, 1969, v. 51, H. 17, s. 14—18.

13. Buckley E. F., Niles G. E. Bcurteilung und Abschirmung Peflexionsarmer Antennenmessraume fur Microwellen. — Elektrotechnic, 1969, v. 51, H20, s. 12—15.

14. Пат. № 1212175 (ФРГ).

15. Пат. № 997027 (Великобритания).

16. Пат. № 3365667 (США).

17. Johnson R. C. The Development of Compact Antenna Range Techniques. — IEEE Convention Record, 1968, Session 11, Antenna. SI 1-lpl—SIl-lp8.

18. Johncon R. C, Ecker H. A. and Moore R. A. Compact Range Techniques and Measurements. — IEEE Trans., 1969, AP-17, № 5, p. 568—576.

19. Anechoic Chamber duplicates far-field out-door ranges, Microwaves, 1977, v. 16, № 8, p. 85.

20. Koob K. A. and Liesenkotter В. Н. С The Semi-Open Anechoic Chamber, — Microwaves Journal, 1978, v. 21, № 6 p. 120—123.

21. Пат. № 3100870 (США).

22. Пат. № 3113271 (США).

23. ECM Research Gets Boost with RAE'S Anechoic Chamber. — Electronics Weekly, 1970, № 580, p. 36.

24. Пат. №3120641 (США).

25. Пат. №.3308467 (США).

26. Пат. № 1062142 (Великобритания)

27. Пат. № 769289 (Канада).

28. Пат. ЛЬ 1444439 (Франция)

29. Пат. № 3273150 (США).

30. А. с. № 427432 (СССР). Безэховая камера/Тучков Л. Т., Биричевский В. М., Бойко Б. М. и др. — 1974.Б. И. № 17.

31. Пат. № 2656535 (США).

32. А. с. № 214622 (СССР). Безэховая рупорная камера/Сагач В. Е. и Фахрудинов К. И. — 1968. Б. И. № 12.

33. А. с. № 345452 (СССР). Безэховая камера/Тучков Л. Т., Щепкин Ю. Н., Уланов Р. Т. и др. — 1972. Б. И. № 22.

34. А. с. № 411556 (СССР). Безэховая камера/Биричевский В. М. 1974. Б. И. № 2.

35. А. с. № 451919 (СССР). Рупорная безэховая камера/Глускин А. А., Кома­ров О. И. и Мицмахер М. И. — Б. И. № 44, 1974.

36. А. с. № 472409 (СССР). Безэховая камера/Зиновьев Ю. С. и Вяткнна В. М. 1975. Б. И. № 20.

37. А. с. № 309316 (СССР). Безэховая камера/Торгованов В. А. — Б. И. № 22, 1971.

38. А. с. № 173813 (СССР). Безэховая камера для антенных измерений/Пиотров­ский А. А. 1965. Б. И. № 16.

39. А. с. № 201476 (СССР). Безэховая камера для измерения параметров излучателей/Кинбер Б. Е., Левин М. М., Дергачева Л. Ф. и Зайцев Ю. А. 1967. Б. И. № 18.

40. А. с. № 309423 (СССР). Безэховая камера/Зайцев Ю. А. и Торгованов В. А. 1971. Б. И. № 22.

41. А. с. № 369518 (СССР). Установка для измерения характеристик электро­магнитных полей/Дзюндзюк Б. В. и Филиппенко В. Е. 1973. Б. И. № 10.

42. Corona P., d'Ambrosio G. Una camera anecoica eiettromagnetica di nuovo designo. Delineazione delle caracteiistiche e verifica delle prestazioni. — Alta Frequenza, 1976, v. 45, № 1, p. 6—19.

43.Куммер В. X. и Джиллеспи Э. С. Антенные измерения. — ТИИЭР, 1978, т. 66, № 4, с. 143—173.

44. Мицмахер М. Ю. Бсзэховые камеры. Методы разработки, испытания, основ­ные типы и характеристики: Лекции. — Ереван, 1968 дсп. № 178, Поиск, сер. А, № 12, реф. 2129.

45. Central Target Simulator Facility. — Microwave Journal, 1979, v. 22, № 2, p. 19.

46.Appel-Hansen J. Reflectivity Level of Radio Anechoic Chambers. — IEEE Trans., 1973, v. AP-21, № 4, p. 490—498.

47. An Anechoic Chamber for Advanced Research. — Microwave Journal, 1970, v. 22, № 12, p. 19.

48. Anechoic chamber kits cover 200 MHz to 30 GHz. — Microwaves, 1972, v. 11, N 6, p. 75.

49. Microwave Anechoic Chamber Kits. — Microwave Journal, 1972, v. 15, № 7, p. 54

50. Czerwinski Watson P., Seward G. J. A Wide-band antenna impedanse simula­tor — IEEE Trans., 1973, v. AP-21, № 4, p. 588—589.

51. Пат № 3806943 (США).

52. Roll—out chamber checks small antennas from 2—18 GHz. — Microwaves, 1975, v. 11, № 12, p. 64.

53. Small, High Power UHF Anechoic Shielded Chamber. — Frequency Technolo­gy, 1970, v. 8, № 6, p. 35.

54. Шнейдерман Я. А. Радиопоглощающие устройства: Обзоры. — Зарубежная радиоэлектроника, 1965, № 4, с. 115—135; 1969, № 6, с. 101—124; 1972, № 7, с. 102—132; 1975, № 2, с. 93—113 и № 3, с. 71—92.

55. Алимин Б. Ф., Торгованов В. А. Методы расчета поглотителей электромаг­нитных волн: Обзоры. — Зарубежная радиоэлектроника, 1976, № 3, с. 29— 57; 1976, № 8, с. 60—80.

56. Алимин Б. Ф. Техника расчета отражения и рассеяния от поглотителей элек­тромагнитных волн: Обзор. — Зарубежная радиоэлектроника, 1977, № 3, с. 128—151.

57. Electronic Equipment News, 1963, v, 4, № 10, p. 48—50, 54.

58. Пат. № 1294511 (ФРГ).

59. Emerson and Cuming Inc. «Free Space Microwave Absorbers».

60. System Measurements in Anechoic Chambers. — Microwave Journal, 1980, v. 23, № 2, p. 79.

61. Aviation Weeck and space Technology, 1964, v. 80, № 3, p. 72—92.

62. Aviation Week and Space Technology, 1970, v. 92, № 10, p. 201»

63. Ferrite and synthetic absorbers cover 0.03 to 100 GHz. —Microwave Journal, 1980, v. 23, № 1, p. 65.

64. Пат. № 3623099 (США).

65. Ferrite absorber series for 50 MHz —15 GHz band. — Microwave Journal, 1980, v. 23, № 2, p. 79.

66.Пригода Б. А., Кокунько В. С. Обтекатели антенн летательных аппаратов. — М.: Машиностроение, 1970.

67.Куммер В. X. и Джиллеспи Э. С. Антенные измерения. — ТИИЭР, 1978, т. 66, № 4, с. 143—173.

68.Джонсон Р., Экер X., Холлис Дж. Определение диаграммы направленности антенн по результатам измерения в ближней зоне. — ТИИЭР, 1973, т. 61, № 12, с. 8—38.

69. Мицмахер М. Ю. Безэховые камеры. Методы разработки, испытания, основ­ные типы и характеристики: Лекции. — Ереван, 1968 ДСП. № 178, Поиск, сер. А, № 12, реф. 2129).

70.Бреховских Л. М. Волны в слоистых средах. — М.: АН СССР, 1957. — 229 с.

71. Каценеленбаум Б. 3. Высокочастотная электродинамика. — М.: Наука, 1966, с. 27—34.

72. Millan Mc. «Electromagnetic Wave Absorbers».

73.Love A. W. The Diagonal Horn Antenna, Electromagnetic Horn Antennas,

— IEEE Press. Edited by A. W. Lowe, 1976.

74.Dybdal R. B. Horn Antenna Sidelobe Reduction Using Absorber Tunnels, — AP-S International Symposium, 1977, p. 324—327.

75.Janssen IW. A., Bednarczyk S. JW., Gulkis S. and others. Pattern Measurements of Low-sidelobe Horn Antenna. — IEEE Trans, on Ant. and Prop., 1979, v. AP-27, N 4, p. 551—555.

76.Fasold D., and Pecher H. Gain of Rectangular Horns. — Microwave Journal, 1979, v. 22, № 3, p. 76—79.

77.А. с. 345451 (СССР). Устройство для измерения параметров безэховых камер/Торгованов В. А. 1972. Б. И. № 22.

78. А. е.. 815681 (СССР). Способ определения ошибок безэховой камеры/Зиничев А. А. и Зайцев Ю. А. — Б. И. 1981, № 11.

79. Халберштейн, Фрич. Исключение мешающих отражений от стен безэховых камер методом сдвига на l/4 и l/2. — ТИИЭР, 1964, т. 52, № 12.

80. Альперт Я. Л., Гинзбург В. Л., Фейнберг Е. Л. Распространение радиоволн. — М.: Гостехпздат, 1953, с. 47.

81.Уфимцев П. Я. Метод краевых волн в физической теории дифракции. — М.: Сов. радио, 1962, с. 45—47.

82.Мицмахер М. Ю., Торгованов В.А. Безэховые камеры СВЧ. – М.: Радио и связь, 1982, с. 89, 95.

 

Ильин Игорь Васильевич

Методы проектирования безэховых камер и измерения радиолокационных характеристик

 

УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКОЕ ПОСОБИЕ

Ответственный за выпуск

Редактор

Корректор