Светодиоды – полупроводниковые источники некогерентного оптического излучения, принцип действия которых основан на явлении электролюминесценции при инжекции неосновных носителей заряда через гомо- или гетеро- p - n -переход. Как правило, светодиоды работают в спектральном диапазоне 0,35...1,6 мкм. Приборы, излучающие в видимом диапазоне, принято называть светоизлучающими диодами – СИД. В своем большинстве они используются как индикаторы для отображения информации, а также как малоинерционные источники света для генерации световых импульсов малой длительности. Также выделяют инфракрасные (ИК) и ультрафиолетовые (УФ) светодиоды. Особым классом светодиодов являются «белые» СИД, чье излучение охватывает практически весь видимый диапазон спектра. Белые светодиоды должны в перспективе заменить лампы накаливания в осветительных приборах благодаря высокой эффективности и значительно большему сроку службы.
В основе действия полупроводниковых светодиодов лежит электролюминесценция. Люминесценция – это излучение, избыточное над тепловым при данной температуре и обладающее длительностью, значительно превышающей период световых колебаний. Электролюминесценция – это люминесценция, возбуждаемая внешним электрическим полем. Наиболее эффективным методом электрического возбуждения является инжекция неосновных носителей заряда через р-n- переход при приложении к нему прямого напряжения U. Такая люминесценция называется инжекционной.
Энергетическая диаграмма р-n- перехода показана на рис. 2.1. Рассмотрим распределение носителей заряда по энергиям в n -области структуры при отсутствии внешнего напряжения (сечение А-А на рис. 2.1, а). Видно, что концентрация электронов в области сечения велика, а количество дырок очень мало. При смещении р-n- перехода в прямом направлении потенциальный барьер снижается на eU (рис. 2.1, б), электроны из n -области инжектируются в p -область, а дырки – в n ‑область. За счет процессов рекомбинации концентрация неосновных носителей заряда убывает по экспоненциальному закону по мере их диффузии от области объемного заряда. Глубиной проникновения инжектированных носителей считают расстояние, на котором их концентрация уменьшится в е раз, т. е. диффузионную длину Ln в p ‑материале и Lp в n ‑материале.
Неравновесное распределение носителей заряда, возникающее в n - и р ‑областях за счет инжекции неосновных носителей через р-n- переход, может быть охарактеризовано с помощью квазиуровней Ферми. Это означает, что уровень Ферми будет расщепляться на два квазиуровня отдельно для электронов Fn * и дырок Fp *, как показано на рис. 2.1, б. По мере удаления от области объемного заряда квазиуровни Ферми будут приближаться к равновесному уровню, сливаясь с ним. На расстоянии, равном диффузионной длине Ln или Lp, неравновесный квазиуровень Ферми снижается (для электронов) или повышается (для дырок) приблизительно на kT от максимального значения на границе p‑n ‑перехода.
Интенсивность инжекции неосновных носителей заряда через p‑n ‑переход определяется величиной прямого напряжения U, приложенного к структуре. Максимальная величина напряжения U maxв этом случае определяется полным спрямлением потенциального барьера, поскольку потенциальный барьер можно почти полностью «убрать» внешним полем, но невозможно сделать его отрицательным. Тогда, как видно из рис. 2.1, eU max ≈ E gи типичные значения рабочего напряжения U раб ≈ 1…4 В. При этом необходимо учитывать, что при протекании тока часть напряжения падает в базовых областях и на контактах. Типичные значения рабочего тока светодиодов составляют 0,1...300 мА. Они зависят от площади p-n- перехода и ограничены нагревом.
Рис. 2.1. Энергетические диаграммы и распределения носителей заряда по энергиям (сечение А-А) для p-n -перехода: а – при отсутствии внешнего напряжения, б – при приложении напряжения U в прямом направлении
Инжекционная люминесценция обусловлена рекомбинацией неравновесных носителей заряда. Такое излучение часто называют рекомбинационным. Однако вклад в люминесценцию дает только излучательная рекомбинация, при которой избыточная энергия рекомбинирующих частиц выделяется в виде кванта электромагнитного излучения – фотона. Безызлучательная рекомбинация, приводящая к рождению фононов (разогреву кристаллической решетки), нежелательна и снижает эффективность работы светодиода. Полное число излучательных переходов в единицу времени в единице объема пропорционально произведению концентрации свободных электронов n и дырок p
| Ф = Вnp, | (2.1) |
где постоянная В определяется скоростью рекомбинации R 0и собственной концентрацией носителей заряда в полупроводнике ni в соответствии с соотношением
| (2.2) |
Скорость рекомбинации связана с показателем поглощения k ωсоотношением Ван-Русбрека–Шокли:
 .
| (2.3) |
Для прямых разрешенных межзонных переходов коэффициент (показатель) поглощения пропорционален корню из энергии
 .
| (2.4) |
Подставив выражения (2.2)–(2.4) в (2.1), получаем спектр собственной люминесценции для переходов зона–зона
 .
| (2.5) |
К наиболее распространенным светодиодам относятся СИД на основе арсенида галлия. Прямая структура энергетических зон GaAs позволяет создать прибор с высокой эффективностью преобразования электрической энергии в излучение. Кроме того, из всех прямозонных полупроводников GaAs является наиболее технологически освоенным. Светоизлучающие диоды на основе арсенида галлия работают в ближней инфракрасной области спектра. Важно, что спектр излучения GaAs-светодиодов очень хорошо соответствует спектру фоточувствительности Si-фотодиодов.
Понятно, что изменить местоположение максимума спектральной характеристики СИД на основе бинарных соединений (А3В5, А2В6и др.) практически невозможно, поскольку ширина запрещенной зоны полупроводника постоянна при неизменной температуре. Поэтому в полупроводниковой оптоэлектронике в основном используют твердые растворы этих соединений. Важнейшим преимуществом таких растворов является возможность плавно и в широких пределах регулировать основные характеристики твердого раствора путем изменения его состава при минимальном рассогласовании параметров решетки.
Светодиоды для области более 1 мкм изготавливаются на основе прямозонных твердых растворов Ga x In1– x As и Ga x In1– x P y As1– y. Для них преобладающей является квазимежзонная излучательная рекомбинация. Важно, что максимум спектра излучения таких светодиодов задается составом твердого раствора. Изменяя х и у, можно изготовить светодиод для заданной области спектра, например совпадающую с минимумом потерь в оптическом волокне или с максимумом спектра поглощения какого-либо вещества, концентрацию которого предстоит контролировать.
Светодиоды для области спектра λ > 5 мкм могут быть изготовлены на основе халькогенидов свинца: Pb x Sn1– x Te, Pb x Sn1– x Se и ртути: Cd x Hg1– x Te.
Светоизлучающие диоды для красной области спектра изготавливают из прямозонных твердых растворов Al x Ga1– x As и GaAs1– x P x, x < 0,4 (используются квазимежзонные переходы), а также из непрямозонного GaP, легированного (Zn + O), где используется излучательная рекомбинация экситонов, связанных на изоэлектронном комплексе (Zn – О).
Первые светодиоды, излучающие в оранжевой, желтой и зеленой областях спектра, создавались на основе непрямозонного твердого раствора GaAs1– x P x (x > 0,6), легированного азотом. Азот в этом материале является эффективной изоэлектронной ловушкой и существенно повышает вероятность излучательной рекомбинации. В светодиодах на основе GaP:N кроме основной полосы с максимумом λ = 0,565 мкм в зеленой области спектра, как правило присутствует дополнительная красная полоса λmах = 0,7 мкм, обусловленная остаточным кислородом в активном эпитаксиальном слое диода. В последние годы благодаря успехам технологии широкое распространение получили высокоэффективные красные и желтые светодиоды на основе четырехкомпонентного твердого раствора с прямой структурой энергетических зон Al x Ga y In1– x – y P.
Светоизлучающие диоды коротковолновой области видимого спектра, работающие в голубом, синем и фиолетовом диапазонах, могут быть созданы на основе нитрида галлия GaN и гетеропереходов с использованием твердых растворов Ga x In1– x N и Ga1– x Al x N.
В белых светодиодах используется коротковолновый GaN-Ga x In1– x N-светодиод с нанесенным на его поверхность специальным люминофором, осуществляющим преобразование синего излучения в желто-зеленое. В качестве люминофора используются некоторые диэлектрики, в частности алюмоиттриевые гранаты, активированные редкоземельными ионами. Белое излучение создается в результате суммирования излучения светодиода и люминофора.
В светодиодах на основе гомопереходов вывод излучения осложняется большим самопоглощением, поскольку ħ ω ≈ E g. Значительные преимущества дает использование при создании СИД структур с гетеропереходами, а также двойных гетероструктур.
Гомопереход образуется в полупроводнике за счет искусственно созданного распределения примесей. Гетеропереход представляет собой контакт (переход) на атомном уровне двух различных по химическому составу материалов (полупроводников), осуществленный в одном кристалле. В зависимости от скорости изменения основных параметров по координате различают резкие и плавные гетеропереходы. В резком гетеропереходе это изменение происходит на уровне одного или двух-трех молекулярных слоев. В плавном гетеропереходе контактная область простирается на десятки, а иногда и сотни периодов решетки (молекулярных слоев).
Гетеропереход называется изотипным, если он образован полупроводниками с одинаковым типом электропроводности, и анизотипным, если образующие его материалы обладают разными типами электропроводности. При обозначении гетероперехода принято указывать тип проводимости полупроводника с узкой запрещенной зоной строчными буквами n или р, а полупроводника с широкой запрещенной зоной – прописными буквами N или Р. На первом месте обычно указывают тип электропроводности более узкозонного материала; так, изотипные гетеропереходы обозначают n-N или p-P, а анизотипные гетеропереходы – n-Р или p-N.
В области контакта двух различных по химическому составу материалов происходит не только изменение ширины запрещенной зоны, но и других электрофизических характеристик материала, в том числе диэлектрической проницаемости, электронного сродства, геометрических параметров решетки, эффективной массы носителей заряда и их подвижности. На границе раздела возможно появление различных дефектов, что является нежелательным. Гетеропереход, в котором на границе раздела двух материалов отсутствуют поверхностные состояния, называется идеальным. Наиболее сильное влияние на отклонение свойств гетероперехода от идеального оказывает различие в параметрах решеток и в температурных коэффициентах линейного расширения материалов, образующих гетеропереход. По этой причине относительное значение разности параметров решеток двух контактирующих материалов
обычно не должно превышать 0,1 %. Дополнительным условием является совпадение их кристаллохимической природы.
Наиболее полно перечисленным требованиям удовлетворяют трех- и четырехкомпонентные твердые растворы в группе полупроводниковых соединений А3В5: GaAs–AlAs (Al x Ga1– x As), GaSb–AlSb (Al x Ga1– x Sb), GaP–AlP (Al x Ga1– x P), Ga–In–As–P (Ga x In1– x P y As1– y).
В отличие от идеального, в реальном гетеропереходе на границе раздела всегда присутствуют поверхностные состояния. Важно, чтобы их влияние на свойства p-n -перехода было малό. В трехкомпонентных твердых растворах изменение состава приводит одновременно к изменению как периода идентичности решетки, так и ширины запрещенной зоны. В четырехкомпонентных твердых растворах типа Ga x In1– x P y As1– y изменением х и у можно в некоторых пределах независимо изменять параметры решетки и ширину запрещенной зоны. При определенных соотношениях между х и у можно подобрать такой ряд растворов, в котором ширина запрещенной зоны будет изменяться при неизменном периоде идентичности решетки. Такой ряд твердых растворов называют изопериодным. Гетеропереходы, изготовленные на основе изопериодных твердых растворов, по своим характеристикам наиболее близки к идеальным.
Энергетические зонные диаграммы p-N - и n-Р -гетеропереходов представлены на рис. 2.3. Вследствие скачка диэлектрической проницаемости и электронного сродства контактирующих материалов в резких гетеропереходах появляются разрывы в валентной зоне (Δ Ev) и в зоне проводимости (Δ Ec), соотношение между которыми различно для разных материалов.
Рис. 2.2. Энергетические диаграммы N-р- в P-n -гетеропереходов: а – в условиях теплового равновесия, б – при смещении в прямом направлении
Важнейшей характеристикой светодиодов является эффективность η преобразования электрической энергии в световую. Эффективность светодиода представляет собой его кпд и связана с внешним квантовым выходом электролюминесценции η е соотношением
 ,
| (2.6) |
где ħ ωmax– энергия фотона, соответствующая максимуму спектра излучения, U раб– приложенное внешнее напряжение. Одним из основных факторов,
определяющих эффективность СИД, является структура диода и тип перехода, используемый в ней. Применение гетероструктур позволяет увеличить η светодиода в несколько раз.
Значение внешнего квантового выхода η е будет определяться внутренним квантовым выходом люминесценции η i, коэффициентом инжекции η I и оптической эффективностью вывода света η o:
| η е = η i η I η o. | (2.7) |
Проанализируем вклад в общую эффективность каждого из входящих в (2.7) сомножителей.
Внутренний квантовый выход люминесценции η i определяется соотношением вероятностей излучательной τизли безызлучательной τбирекомбинаций
 .
| (2.8) |
Он зависит от особенностей зонной структуры полупроводника, типа легирующих примесей и их концентрации, а также от степени совершенства материала. Важно, чтобы скорость излучательной рекомбинации превышала скорость безызлучательной. По этой причине для изготовления светодиодов предпочтительнее использовать полупроводники с прямой структурой энергетических зон, поскольку вероятности излучательных переходов там существенно выше, чем в непрямозонных материалах.
Как правило, излучательная рекомбинация преобладает в одной из областей (р- или n-), прилегающих к p-n -переходу. Поэтому р-n- переход в светодиоде должен обеспечить преимущественную инжекцию неосновных носителей заряда в ту область, где η i максимален. Если активной областью с высоким η i является р -область материала, тогда коэффициент инжекции η I есть отношение электронного тока Ie к полному току I, протекающему через р-n- переход в прямом направлении:
 .
| (2.9) |
Наилучшие условия для односторонней инжекции обеспечиваются в гетеропереходе, где осуществляется преимущественная инжекция из широкозонной области в узкозонную.
Коэффициент вывода света η o определяется процессами распространения света в активном материале, его отражением и поглощением на границах раздела, в том числе процессами полного внутреннего отражения. Величина η o представляет собой оптическую эффективность вывода из кристалла излучения, генерируемого в активной области светодиода. Из-за большого значения показателя преломления n полупроводника из диода может выйти только малая часть света, падающего на верхнюю грань в пределах конуса с критическим углом
 .
| (2.10) |
Если пренебречь поглощением внутри диода, то доля излучения, которое может быть выведено из светодиода с плоской геометрией через его верхнюю грань при первом падении на нее световой волны, составляет
 ,
| (2.11) |
где Т – коэффициент пропускания света.
Коэффициент вывода света η o можно повысить, увеличивая критический угол θкри уменьшая отражение в пределах выходного конуса. Для этого над кристаллом светоизлучающего диода размещают линзу, имеющую полусферическую, усеченную сферическую или эллипсоидальную геометрию. Использование линзы позволяет увеличить телесный угол θкр, что приводит к возрастанию значения η o почти на порядок. Меняя форму линзы, можно также регулировать диаграмму направленности светодиода.
Современные светодиоды выполняются на основе ДГС. Для повышения эффективности оптического вывода используются различные методы, в частности интерференционные зеркала. На рис. 2.3, а показана светодиодная структура, выращенная на низкоомной (высоколегированной) n +‑подложке. Такая подложка требуется для обеспечения минимальных омических потерь, хорошего растекания тока и качественного теплоотвода. К сожалению, высокое легирование приводит к возрастанию влияния эффектов самопоглощения. Кроме того, в ряде случаев ширина запрещенной зоны подложки может быть меньше энергии излучаемых фотонов, т. е. материал будет непрозрачен для излучения светодиода. Для ограничения проникновения фотонов в подложку можно использовать интерференционные зеркала, называемые также распределенными брэгговскими отражателями (РБО). Для создания РБО выращиваются чередующиеся слои полупроводниковых соединений, удовлетворяющие условию n 1 d 1 = n 2 d 2 = λ/4. Интерференция, возникающая при многократном отражении от границ слоев, приводит к максимуму отражения и минимуму пропускания для излучения с длиной волны λ. Важно, что РБО отражает фотоны, но не препятствует движению носителей заряда через подложку. Это позволяет наносить отрицательный электрод на нижнюю поверхность кристалла.
Излучающая часть СИД представляет собой ДГС, активная область которой может содержать квантоворазмерные структуры. Вывод излучения осуществляется через широкозонный P ‑эмиттер и второй брегговский отражатель, выполняющий функцию просветляющего покрытия и удовлетворяющий условию интерференции на максимум пропускания (минимум отражения): n 1 d 1 = n 2 d 2 = λ/2. Для обеспечения хорошего омического контакта перед напылением металла на структуру наносят высоколегированный p +‑слой. Для снижения поглощения света в верхнем электрическом контакте, имеющем кольцевую форму, боковые области полупроводника подвергают ионной бомбардировке для придания им свойств полуизолятора и вытеснению тока в центральную часть кристалла. Вместо бомбардировки можно также использовать контакты специальной формы – в виде креста, точки и т. п.
Поскольку нитридные СИД в настоящее время выращиваются на чужеродных подложках, часто обладающих диэлектрическими свойствами, то наносить отрицательный контакт на обратную часть структуры в них нельзя. Контакты в таких светодиодах приходится делать с одной стороны, но на разных уровнях (рис. 2.3, б). На подложке сапфира или карбида кремния после буферного слоя выращивается толстый слой n +‑GaN, к которому будет присоединен катод, затем ДГС с активной областью, содержащей множественные квантовые ямы, и слой p ‑GaN для положительного контакта. Для получения доступа к n +‑области вытравливается мезаструктура, после чего наносится отрицательный контакт. Поскольку сапфировые подложки характеризуются низкой теплопроводностью, то для улучшения теплоотвода светодиодные структуры часто устанавливают в «перевернутом» виде – p ‑областью вниз (flip-chip). Излучение в этом случае выводится через подложку, прозрачную для коротковолнового света.
Как следует из (2.5), спектр излучения СИД определятся тремя основными факторами: коэффициентом Ф0, шириной запрещенной зоны E g и температурой Т. Рассмотрим влияние этих факторов более подробно.
а б
Рис. 2.3. Структуры светодиодов: а – с интерференционными зеркалами (распределенными брегговскими отражателями; б – flip-chip на основе полупроводниковых нитридов
|
Коэффициент Ф0 по существу определяет мощность излучения светодиода в максимуме спектральной характеристики. Мощность излучения зависит от числа рекомбинационных переходов с испусканием фотона, которое в свою очередь определяется вероятностью таких переходов, внутренней квантовой эффективностью и числом носителей заряда в активной области (АО). Концентрация электронов зависит от интенсивности инжекции в структуре, т.е. от прямого тока Iпр. Таким образом, изменение коэффициента Ф0
|
В отличие от светодиодов ватт-амперная характеристика лазерного диода носит пороговый характер. До I < I пор лазерный диод работает в светодиодном режиме и испускает ненаправленное спонтанное излучение. Низкий внешний квантовый выход в этом режиме обусловлен потерями на поглощение в пассивных областях и контактах, отражением при выходе излучения и полным внутренним отражением. При I > I порна рабочем участке ватт-амперной характеристики наблюдается резкое возрастание мощности через зеркала резонатора вследствие преобладания вынужденной рекомбинации носителей. При этом происходит уменьшение интенсивности спонтанного излучения, регистрируемого через боковую поверхность. Пропускание слишком высоких токов накачки приводит к выходу лазера из строя. Основными причинами является перегрев кристалла и разрушение зеркал резонатора.
Ширина запрещенной зоны E g определяет местоположение спектра на оси энергий или длин волн. В идеальном СИД излучение начинается с энергий равных ширине запрещенной зоны, а максимум спектра лежит на расстоянии kT /2 от E g. В реальных СИД всегда присутствуют состояния, лежащие внутри запрещенной зоны (примеси и иные дефекты), поэтому излучение начинается при энергиях меньших E g, а максимум спектра приблизительно соответствует ширине запрещенной зоны. Сильное влияние на спектр излучения СИД оказывает температурное изменение ширины запрещенной зоны материала, которое приводит к увеличению максимальной длины волны излучения при росте Т. Разогрев может происходить не только при изменении температуры внешний среды, но и при пропускании прямого тока через структуру.
В случае использования квантоворазмерных структур (КРС) при создании СИД длинноволновая граница излучения определяется не E g, а минимальным расстоянием между уровнями размерного квантования. На изменение положения максимума спектральной характеристики при увеличении прямого тока в этом случае влияние оказывают не только самонагрев, но и квантоворазмерные эффекты, перераспределение носителей между уровнями и наличие хвостов плотностей состояний, в большинстве случаев приводящие к сдвигу максимума спектра в направлении противоположном температурному изменению ширины запрещенной зоны. Большинство коротковолновых СИД создаются на основе полупроводниковых нитридов с использованием КРС, поэтому при низких токах в таких структурах наблюдается коротковолновый сдвиг максимальной длины волны излучения.
Из (2.5) видно, что ширина спектра пропорциональна kT. Таким образом, при увеличении температуры происходит уширение спектральных характеристик излучения светодиодов.
2.2. Описание установки
Характеристики светодиодов исследуются с помощью установки, схематически представленной на рис. 2.5. Установка содержит RGB-светодиод 1 с несколькими кристаллами 2, излучающими различные длины волн. Измерения спектральных характеристик светодиодов производятся с помощью спектрометра быстрого сканирования 3 (СБС) через волновод 4. Построение спектров происходит автоматически на подключенном к СБС персональном компьютере 5 с помощью программного пакета SpectraSuite. Мощность излучения светодиода регулируется путем изменения прямого тока, поступающего от блока питания PSM-6003. Для контроля значения тока используется амперметр GDM-8246, значение напряжения можно определить с помощью вольтметра, встроенного в блок питания PSM-6003.
Рис. 2.5. Схема для исследования характеристик светодиода
Установка позволяет производить измерения в широком диапазоне температур на светодиоде, задаваемых с помощью элемента Пельтье 6. Температуру можно регулировать с помощью изменения тока, поступающего на элемент Пельтье с блока питания SPS-606.
2.3. Проведение измерений
1. Включить компьютер. Запустить программу SpectraSuite. Убедиться, что спектрометр обнаружился (появилось его изображение в левой панели 1, рис. 2.6), иначе вручную провести рескан приборов, для чего выбрать "Rescan Devices" в меню 2 "Spectrometer". Если спектрометр все равно не обнаружился, следует переключить USB-кабель в другой разъем и провести рескан заново.
Рис. 2.6. Рабочее окно программы SpectraSuite
2. Включить источник питания светодиода (PSM-6003). Нажать кнопку " V set " и установить напряжение 20 В, затем нажать кнопку " I set " и установить ток 0,023 А. Включить выходное напряжение кнопкой " Output ". Вращая ручки резисторов, регулирующие токи отдельных светодиодов, понаблюдать за изменением спектра на экране компьютера и цвета излучения СИД на панели измерительного блока.
3. Настроить диапазон измерения в программе SpectraSuite. Для этого установить ширину окна 8 ед. (12); токи, протекающие через каждый кристалл СИД на максимум, убедиться в отсутствии переполнения (полочки в верхней части спектра, спектр должен быть "острым"). Если переполнение хотя бы у одного кристалла наблюдается, следует снизить (примерно до 1 с) время интеграции (11) таким образом, чтобы переполнение исчезло, но интенсивность спектров на экране была бы максимальной.
4. Убрать фоновый шум. Для этого отключить питание кнопкой " Output ", измерить один спектр и остановить измерения (6), записать шумовой спектр (8), удалить шум (9) и включить непрерывные измерение снова (7), включив питание.
5. Сохранить спектр на диск компьютера. Для этого нажать кнопку (10) и в появившемся окне выбрать в графе “File type” выбрать пункт “Tab Delimited”. Нажав кнопку "Browse", перейти в папку D:\Students, создать папку группу (если ее еще нет) и бригады (например D:\Students\6202\6202-1\). Ввести имя файла в соответствующем поле. Рекомендуется использовать следующий формат названия: "B4 G8 R3 T16.txt", где B, G или R - обозначения цвета кристалла (синий, зеленый или красный), цифра рядом с буквой – значение тока в мА (B4 - синий кристалл, ток =4 мА), Т – температура (T16 – 16ºС). Окно папки закрыть и сохранить файл, нажав "Save". Следует обязательно убедиться, что файл сохранен в правильной папке в правильном формате (txt), для чего необходимо перейти в папку с помощью стандартного Проводника Windows, найти и открыть файл. Название каждого файла следует записывать в протокол измерений.
6. Включить амперметр GDM-8246, убедиться, что выбран предел измерения – десятки мА.
7. Измерить и сохранить на диск спектральные характеристики каждого кристалла при токах от 1 до 11 мА через 2 мА, поочередно переключая режим измерения верхним тумблером в положения B, G или R. Измерить и сохранить спектры для токов, равных 5 и 11 мА, протекающих одновременно через все кристаллы.
8. Регулируя токи на кристаллах, добиться белого цвета излучения СИД. Записать полученные токи и сохранить спектр. Оставить белый цвет и в дальнейшем его не менять!
9. Переключить тумблер режима нагрева в положение «О» (охлаждение). Включить источник питания элемента Пельтье (SPS-606). Задаваемое на нем напряжение не должно превышать 3.5 В, а ток 5 А. Изменяя напряжение, охладить СИД до минимальной температуры (порядка -5 ºС). Записать спектр СИД.
10. Измерить спектры в диапазоне от минимальной температуры до +65 ºС через 10 ºС. При достижении комнатной температуры тумблер режима нагрева следует переключить в положение «Н», уменьшив в ноль напряжение на SPS-606. Напряжение на SPS-606 следует повышать постепенно, избегая перегрева СИД.
11. Провести измерения при температуре +65 ºС в соответствии с п. 7 ‑ 8.
Обработка результатов и содержание отчета
В отчете должны быть представлены:
1. Цель работы.
2. Схема измерительной установки.
3. Спектральные характеристики каждого кристалла светодиода при различных значениях прямых токов. Спектры для каждого кристалла должны быть построены на одном графике.
4. Зависимость длин волн, соответствующих максимуму излучения каждого из кристаллов, от тока, протекающего через кристалл λmax = f(Iпр).
5. Ватт-амперные характеристики - зависимости мощности излучения, соответствующей максимуму спектра для каждого из кристаллов, от тока, протекающего через кристалл Pmax = f(Iпр).
6. Зависимости, перечисленные в пп. 3-5 для спектров излучения, измеренных при пропускании тока через все кристаллы светодиода.
7. Спектры, измеренные при различных температурах, и графики λmax = f(Т) и Pmax = f(Т).
8. Таблицу напряжений, падающих на кристаллах СИД, измеренных при различных температурах.
Контрольные вопросы
1. Каковы физические основы работы светодиодов?
2. Что такое люминесценция и какие методы применяются для ее возбуждения?
3. Почему люминесценцию в полупроводниках часто называют рекомбинационной?
4. В чем основные отличия светодиодов от полупроводниковых инжекционных лазеров?
5. Какие факторы определяют спектр излучения светодиода?
6. Каким образом изменение температуры и силы тока, протекающего через светодиод, влияет на его спектральные характеристики?
7. Какие методы позволяют увеличить внутренний квантовый выход люминесценции η i?
8. Что влияет на величину коэффициента инжекции η I?
9. Пояснить необходимость применения линз в конструкции светоизлучающих диодов.
10. Назвать области применения светодиодов.
11. Пояснить отличие между ВтАХ СИД и ИПЛ.
12. Какие факторы определяют сдвиг максимума спектральной характеристики при увеличении прямого тока через структуру?
13. Пояснить различия в спектральных характеристиках светодиодных кристаллов с разным цветом излучения.
